收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 26070-2010 化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法
Characterization of subsurface damage in polished compound semiconductor wafers by reflectance difference spectroscopy method
基本信息
-
标准号：
GB/T 26070-2010
-
名称：
化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法
-
英文名称：
Characterization of subsurface damage in polished compound semiconductor wafers by reflectance difference spectroscopy method
-
状态：
现行
-
类型：
国家标准
-
性质：
推荐性
-
发布日期：
2011-01-10
-
实施日期：
2011-10-01
-
废止日期：
暂无
-
相关公告：
实施公告【关于批准发布《紧固件 质量保证体系》等410项国家标准的公告】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类：
【
冶金（77）
金属材料试验（77.040）
金属材料的其他试验方法（77.040.99）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
金属化学分析方法（H10/19）
半金属及半导体材料分析方法（H17）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 19346.2-2017
非晶纳米晶合金测试方法 第2部分：带材叠片系数
-
GB/T 8758-2006
砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法
-
YB/T 5312-2006
硅钙合金化学分析方法 高氯酸脱水重量法测定硅量
-
GB/T 23606-2009
铜氢脆检验方法
-
DB53/T 796-2016
云南省富锡渣中铟含量的测定 原子吸收光谱法
-
YB/T 4339-2013
连铸钢板坯低倍枝晶组织缺陷评级图
-
GB/T 30067-2013
金相学术语
-
YB/T 4931-2021
连铸钢异型坯低倍组织缺陷评级图
-
GB/T 3656-2008
软磁材料矫顽力的抛移测量方法
-
GB/T 37787-2019
金属材料 显微疏松的测定 荧光法
-
YB/T 4676-2018
钢中析出相的分析 透射电子显微镜法
-
GB/T 14849.4-2008
工业硅化学分析方法 第4部分：电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量
-
YB/T 4677-2018
钢中织构的测定 电子背散射衍射（EBSD）法
-
GB/T 40281-2021
钢中非金属夹杂物含量的测定 极值分析法
-
GB/T 1222-2016
弹簧钢
-
YS/T 980-2014
高纯三氧化二镓杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
-
YS/T 227.6-1994
碲中铜量的测定(新亚铜灵--三氯甲烷萃取吸光光度法)
-
DB53/T 728-2015
云南省锌物料中铟含量的测定 原子吸收分光光度法
-
GB/T 34474.2-2018
钢中带状组织的评定 第2部分：定量法
-
YS/T 226.8-1994
硒中硼量的测定(次甲基蓝吸光光度法)
打开设置，点击
执行注册
