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GB/T 26067-2010 硅片切口尺寸测试方法

Standard test method for dimensions of notches on silicon wafers
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 26067-2010
  • 名称:
    硅片切口尺寸测试方法
  • 英文名称:
    Standard test method for dimensions of notches on silicon wafers
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2011-01-10
  • 实施日期:
    2011-10-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
分类信息
描述信息
  • 前言:
    本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC203/SC2)归口。
    本标准起草单位:有研半导体材料股份有限公司、万向硅峰电子股份有限公司。
    本标准主要起草人:杜娟、孙燕、卢立延、楼春兰。
  • 适用范围:
    1.1 本标准定性的提供了判定硅片基准切口是否满足标准限度要求的非破坏性测试方法。本方法的测试原理同样适用于其他切口尺寸的测量。
    1.2 本标准中物体平面尺寸为0.1mm时,通过20倍的放大后会在投影屏上形成2.0mm的影像,通过50倍放大后会产生5.0mm的投影。本方法可以发现切口轮廓上的最小尺寸细节。
    1.3 本标准不提供切口顶端的曲率半径的测试。
  • 引用标准:
    下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
    GB/T2828.1 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
    GB/T14264 半导体材料术语
相关标准
  • 引用标准:
    GB/T 2828.1 GB/T 14264
相关部门
  • 归口单位:
    2) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC
  • 主管部门:
    2) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC
  • 起草单位:
    万向硅峰电子股份有限公司 有研半导体材料股份有限公司
相关人员
暂无