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GB/T 25758.4-2010 无损检测 工业X射线系统焦点特性 第4部分:边缘方法

Non-destructive testing - Characteristics of focal spots in industrial X-ray systems for use in non-destructive testing - Part 4: Edge method
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 25758.4-2010
  • 名称:
    无损检测 工业X射线系统焦点特性 第4部分:边缘方法
  • 英文名称:
    Non-destructive testing - Characteristics of focal spots in industrial X-ray systems for use in non-destructive testing - Part 4: Edge method
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2010-12-23
  • 实施日期:
    2011-10-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【】
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分类信息
  • ICS分类:
    试验(19) 无损检测(19.100)
  • CCS分类:
    机械(J) 机械综合(J00/09) 基础标准与通用方法(J04)
  • 行标分类:
    暂无
描述信息
  • 前言:
    GB/T25758《无损检测 工业X 射线系统焦点特性》分为五个部分:
    ---第1部分:扫描方法;
    ---第2部分:针孔照相机射线照相方法;
    ---第3部分:狭缝照相机射线照相方法;
    ---第4部分:边缘方法;
    ---第5部分:小焦点和微焦点X 射线管的有效焦点尺寸的测量方法。
    本部分为GB/T25758的第4部分。
    本部分等同采用EN125434:1999《无损检测 工业X 射线系统焦点特性 第4部分:边缘方法》(英文版)。
    本部分等同翻译EN125434:1999。
    为便于使用,本部分作了下列编辑性修改:
    ---本欧洲标准一词改为本部分;
    ---删除EN 标准的前言;
    ---用小数点.代替作为小数点的逗号,;
    ---用GB/T1.1-2000规定的引导语代替EN 标准中的引导语。
    本部分的附录A 为资料性附录。
    本部分由全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)提出并归口。
    本部分起草单位:上海泰司检测科技有限公司、上海英华无损检测技术有限公司、上海材料研究所、上海诚友实业有限公司、上海威诚邦达检测技术有限公司、通用电气传感检测科技(上海)有限公司、丹东奥龙射线仪器有限公司、山东轻工业学院。
    本部分主要起草人:孔凡琴、李博、章怡明、金宇飞、赵成、丁鸣华、李义彬、孙宝江。
  • 适用范围:
    GB/T 25758的本部分规定了采用清晰边缘的射线照相底片,来校验管电压最高至500kV的工业X射线系统的大于0.5mm焦点尺寸的方法。
    X射线图像的像质和分辨力很大程度上取决于焦点的特性。焦点成像质量基于目标平面的二维强度分布。
    边缘方法对于在现场条件下校验焦点是特别有效,以发现焦点的变化。本方法不能用于焦点尺寸的绝对测量。焦点尺寸的绝对测量方法见附录A。
  • 引用标准:
    下列文件中的条款通过GB/T25758的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
    GB/T19348.1 无损检测 工业射线照相胶片 第1 部分:工业射线照相胶片系统的分类1)
    (GB/T19348.1-2003,ISO116991:1998,IDT)
    1) 该标准将在修订GB/T19348.1-2003的基础上发布(等同采用ISO11699-1:2008,与EN584-1:1994等效)。
    GB/T19802 无损检测 工业射线照相观片灯 最低要求(GB/T19802-2005,ISO5580:1985,IDT)
    GB/T25758.1 无损检测 工业X 射线系统焦点特性 第1 部分:扫描方法(GB/T25758.1-2010,EN125431:1999,IDT)
相关标准
  • 引用标准:
    GB/T 19348.1 GB/T 19802 GB/T 25758.1
  • 采用标准:
    EN 12543-4:1999 无损检测 工业X射线系统焦点特性 第4部分:边缘方法 (等同采用 IDT)
相关部门
  • 起草单位:
    上海材料研究所 上海威诚邦达检测技术有限公司 上海泰司检测科技有限公司 上海英华无损检测技术有限公司 上海诚友实业有限公司 通用电气传感检测科技(上海)有限公司 丹东奥龙射线仪器有限公司 山东轻工业学院
  • 归口单位:
    全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC 56)
  • 主管部门:
    全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC 56)
相关人员
暂无
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