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GB/T 26533-2011 俄歇电子能谱分析方法通则
General rules for Auger electron spectroscopic analysis基本信息
- 标准号:GB/T 26533-2011
- 名称:俄歇电子能谱分析方法通则
- 英文名称:General rules for Auger electron spectroscopic analysis
- 状态:现行
- 类型:国家标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:2011-05-12
- 实施日期:2011-12-01
- 废止日期:暂无
- 相关公告:
分类信息
- ICS分类:【 】、【 】
- CCS分类:【 】
- 行标分类:暂无
描述信息
- 前言:本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。
本标准起草单位:清华大学化学系。
本标准主要起草人:姚文清、李展平、曹立礼、朱永法。 - 适用范围:本标准规定了以电子束为激发源的俄歇电子能谱(AES,Auger Electron Spectroscopy)的一般表面分析方法。
本标准适用于俄歇电子能谱仪。 - 引用标准:下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T22461—2008 表面化学分析 词汇
ISO/TR15969:2001 表面化学分析 深度分析 溅射深度的测量(SurfaceChemicalAnalysis—DepthProfiling—MeasurementofSputteredDepth)
ISO18116:2005 表面化学分析 表面分析样品的制备和固定方法指南(SurfaceChemicalAnalysis—GuidelinesforPreparationandMountingofSpecimensforAnalysis)
ISO18118:2002(E) 表面化学分析 AES和XPS均匀材料定量分析所用的实验相对灵敏度因子使用指南(SurfaceChemicalAnalysis—AESandXPS—GuidetouseofExperimentalRelativeSensitivityFactorsfortheQuantitativeAnalysisofHomogeneousMaterials)
ISO/TR18394:2006 表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息来源(SurfaceChemical
Analysis—AugerElectronSpectrometers—DerivationofChemicalInformation)
ISO/TR19319:2003 表面化学分析 俄歇电子能谱和X 射线光电子谱 分析者对于横向分辨率、分析范围和样品观察范围的测定(SurfaceChemicalAnalysis—AugerEletronSpectroscopyandXrayPhotoelectronSpectroscopy—
DeterminationofLateralResolution,Analysis Area,andSample
AreaViewedbytheAnalyser)
ASTM E1078—2002 表面分析中制样和装样的标准指南(StandsardGuideforSpecimenPreparationandMountinginSurfaceAnalysis)
ASTM E1829—2002 表面分析前样品处理标准指南(StandsardGuideforHandlingSpecimens
PriortoSurfaceAnalysis)
相关标准
- 引用标准:GB/T 22461-2008 ISO/TR 15969:2001 ISO 18116:2005 ISO 18118:2002(E) ISO/TR 18394:2006 ISO/TR 19319:2003 ASTM E1078-2002 ASTM E1829-2002
相关部门
- 归口单位:全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
- 主管部门:全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
- 起草单位:清华大学化学系
相关人员
暂无
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