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GB/T 26533-2011 俄歇电子能谱分析方法通则

General rules for Auger electron spectroscopic analysis
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 26533-2011
  • 名称:
    俄歇电子能谱分析方法通则
  • 英文名称:
    General rules for Auger electron spectroscopic analysis
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2011-05-12
  • 实施日期:
    2011-12-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【关于批准发布《化学试剂 氢氟酸》等192项国家标准的公告】
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分类信息
  • ICS分类:
    计量学和测量、物理现象(17) 光学和光学测量(17.180) 】、
    成像技术(37) 光学设备(37.020)
  • CCS分类:
    仪器、仪表(N) 光学仪器(N30/39) 电子光学与其他物理光学仪器(N33)
  • 行标分类:
    暂无
描述信息
  • 前言:
    本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
    本标准由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。
    本标准起草单位:清华大学化学系。
    本标准主要起草人:姚文清、李展平、曹立礼、朱永法。
  • 适用范围:
    本标准规定了以电子束为激发源的俄歇电子能谱(AES,Auger Electron Spectroscopy)的一般表面分析方法。
    本标准适用于俄歇电子能谱仪。
  • 引用标准:
    下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
    GB/T22461—2008 表面化学分析 词汇
    ISO/TR15969:2001 表面化学分析 深度分析 溅射深度的测量(SurfaceChemicalAnalysis—DepthProfiling—MeasurementofSputteredDepth)
    ISO18116:2005 表面化学分析 表面分析样品的制备和固定方法指南(SurfaceChemicalAnalysis—GuidelinesforPreparationandMountingofSpecimensforAnalysis)
    ISO18118:2002(E) 表面化学分析 AES和XPS均匀材料定量分析所用的实验相对灵敏度因子使用指南(SurfaceChemicalAnalysis—AESandXPS—GuidetouseofExperimentalRelativeSensitivityFactorsfortheQuantitativeAnalysisofHomogeneousMaterials)
    ISO/TR18394:2006 表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息来源(SurfaceChemical
    Analysis—AugerElectronSpectrometers—DerivationofChemicalInformation)
    ISO/TR19319:2003 表面化学分析 俄歇电子能谱和X 射线光电子谱 分析者对于横向分辨率、分析范围和样品观察范围的测定(SurfaceChemicalAnalysis—AugerEletronSpectroscopyandXrayPhotoelectronSpectroscopy—
    DeterminationofLateralResolution,Analysis Area,andSample
    AreaViewedbytheAnalyser)
    ASTM E1078—2002 表面分析中制样和装样的标准指南(StandsardGuideforSpecimenPreparationandMountinginSurfaceAnalysis)
    ASTM E1829—2002 表面分析前样品处理标准指南(StandsardGuideforHandlingSpecimens
    PriortoSurfaceAnalysis)
相关标准
  • 引用标准:
    GB/T 22461-2008 ISO/TR 15969:2001 ISO 18116:2005 ISO 18118:2002(E) ISO/TR 18394:2006 ISO/TR 19319:2003 ASTM E1078-2002 ASTM E1829-2002
相关部门
  • 归口单位:
    全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
  • 主管部门:
    全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
  • 起草单位:
    清华大学化学系
相关人员
暂无
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