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YS/T 34.2-2011 高纯砷化学分析方法 极谱法测定硒量
Method for chemical analysis of the high-purity arsenic—Predicating method for determinating the concentration of selenium
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
冶金（77）
金属材料试验（77.040）
金属材料化学分析（77.040.30）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
金属化学分析方法（H10/19）
半金属及半导体材料分析方法（H17）
】
-
行标分类：
描述信息
-
前言：
YS/T34《高纯砷化学分析方法》包括3个部分:
———第1部分:高纯砷化学分析方法 电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定高纯砷中杂质含量;
———第2部分:高纯砷化学分析方法 极谱法测定硒量;
———第3部分:高纯砷化学分析方法 极谱法测定硫量。
本部分是YS/T34的第2部分。
本部分代替YS/T34.3—1992《高纯砷化学分析方法 极谱法测定硒量》。
本部分按照GB/T1.1—2009《标准化工作导则 第1部分:标准的结构和编写》的规定编写。
本部分由全国有色金属标准化技术委员会归口。
本部分负责起草单位:峨嵋半导体材料厂。
本部分主要起草人:程高明、唐云博。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
———YS/T34.3—1992。
-
适用范围：
YS/T 34的本部分规定了高纯砷中硒含量的测定方法。
本部分适用于砷(99.999%)中硒含量的测定。测定范围为0.000 05%～0.000 15%。
-
引用标准：
暂无
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