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YS/T 34.2-2011 高纯砷化学分析方法 极谱法测定硒量
Method for chemical analysis of the high-purity arsenic—Predicating method for determinating the concentration of selenium
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
冶金(77)
金属材料试验(77.040)
金属材料化学分析(77.040.30)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
金属化学分析方法(H10/19)
半金属及半导体材料分析方法(H17)
】
-
行标分类:
描述信息
-
前言:
YS/T34《高纯砷化学分析方法》包括3个部分:
———第1部分:高纯砷化学分析方法 电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定高纯砷中杂质含量;
———第2部分:高纯砷化学分析方法 极谱法测定硒量;
———第3部分:高纯砷化学分析方法 极谱法测定硫量。
本部分是YS/T34的第2部分。
本部分代替YS/T34.3—1992《高纯砷化学分析方法 极谱法测定硒量》。
本部分按照GB/T1.1—2009《标准化工作导则 第1部分:标准的结构和编写》的规定编写。
本部分由全国有色金属标准化技术委员会归口。
本部分负责起草单位:峨嵋半导体材料厂。
本部分主要起草人:程高明、唐云博。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
———YS/T34.3—1992。
-
适用范围:
YS/T 34的本部分规定了高纯砷中硒含量的测定方法。
本部分适用于砷(99.999%)中硒含量的测定。测定范围为0.000 05%~0.000 15%。
-
引用标准:
暂无
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