YS/T 34.1-2011

高纯砷化学分析方法 电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）测定高纯砷中杂质含量

Method for chemical analysis of the high-purity arsenic—Inductive coupling plasma mass spectrum (ICP-MS) for determinating the concentration of elements in the high-purity arsenic

现行

行业标准

推荐性

2011-12-20

2012-07-01

暂无

实施公告【2012年第3号(总第147号)】

YS/T34《高纯砷化学分析方法》包括3个部分:
———第1部分:高纯砷化学分析方法 电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定高纯砷中杂质
含量;
———第2部分:高纯砷化学分析方法 极谱法测定硒量;
———第3部分:高纯砷化学分析方法 极谱法测定硫量。
本部分是YS/T34的第1部分。
本部分代替YS/T34.1—1992《高纯砷化学分析方法 孔雀绿分光光度法测定锑量》和YS/T34.2—1992《高纯砷化学分析方法 化学光谱法测钴、锌、银、铜、钙、铝、镍、铬、铅、镁、铁量》。
本部分与YS/T34.1~34.2—1992标准相比,主要有如下变动:
———采用电感耦合等离子质谱法测定高纯砷中镁、铬、镍、铜、锌、银、铅、铋、钠、钾、铝、钙、铁、锑等14个杂质的含量。
———按照GB/T1.1—2009《标准化工作导则 第1部分:标准的结构和编写》的规定编写。
本部分由全国有色金属标准化技术委员会归口。
本部分负责起草单位:峨嵋半导体材料厂、峨眉山嘉美高纯材料有限公司。
本部分主要起草人:程高明、邹同贵、文英、唐云博、廖敏。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
———YS/T34.1~34.2—1992。

YS/T 34的本部分规定了高纯砷中金属杂质含量的测定方法，采用电感耦合等离子质谱法测定砷中镁、铬、镍、铜、锌、银、锑、铅、铋、钠、钾、铝、钙、铁等14个杂质含量。
本部分适用于99.999%～99.999　99%高纯砷中金属杂质含量的测定。测定范围为1×10－7%～1 000×10－7%。

暂无

YS/T 34.1-1992 YS/T 34.2-1992

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