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YS/T 34.1-2011 高纯砷化学分析方法 电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定高纯砷中杂质含量
Method for chemical analysis of the high-purity arsenic—Inductive coupling plasma mass spectrum (ICP-MS) for determinating the concentration of elements in the high-purity arsenic
基本信息
标准号:
YS/T 34.1-2011
名称:
高纯砷化学分析方法 电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定高纯砷中杂质含量
英文名称:
Method for chemical analysis of the high-purity arsenic—Inductive coupling plasma mass spectrum (ICP-MS) for determinating the concentration of elements in the high-purity arsenic
状态:
现行
类型:
行业标准
性质:
推荐性
发布日期:
2011-12-20
实施日期:
2012-07-01
废止日期:
暂无
相关公告:
实施公告【2012年第3号(总第147号)】
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分类信息
ICS分类:
【
冶金(77)
金属材料试验(77.040)
金属材料化学分析(77.040.30)
】
CCS分类:
【
冶金(H)
金属化学分析方法(H10/19)
半金属及半导体材料分析方法(H17)
】
行标分类:
描述信息
前言:
YS/T34《高纯砷化学分析方法》包括3个部分: ———第1部分:高纯砷化学分析方法 电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定高纯砷中杂质 含量; ———第2部分:高纯砷化学分析方法 极谱法测定硒量; ———第3部分:高纯砷化学分析方法 极谱法测定硫量。 本部分是YS/T34的第1部分。 本部分代替YS/T34.1—1992《高纯砷化学分析方法 孔雀绿分光光度法测定锑量》和YS/T34.2—1992《高纯砷化学分析方法 化学光谱法测钴、锌、银、铜、钙、铝、镍、铬、铅、镁、铁量》。 本部分与YS/T34.1~34.2—1992标准相比,主要有如下变动: ———采用电感耦合等离子质谱法测定高纯砷中镁、铬、镍、铜、锌、银、铅、铋、钠、钾、铝、钙、铁、锑等14个杂质的含量。 ———按照GB/T1.1—2009《标准化工作导则 第1部分:标准的结构和编写》的规定编写。 本部分由全国有色金属标准化技术委员会归口。 本部分负责起草单位:峨嵋半导体材料厂、峨眉山嘉美高纯材料有限公司。 本部分主要起草人:程高明、邹同贵、文英、唐云博、廖敏。 本部分所代替标准的历次版本发布情况为: ———YS/T34.1~34.2—1992。
适用范围:
YS/T 34的本部分规定了高纯砷中金属杂质含量的测定方法,采用电感耦合等离子质谱法测定砷中镁、铬、镍、铜、锌、银、锑、铅、铋、钠、钾、铝、钙、铁等14个杂质含量。 本部分适用于99.999%~99.999 99%高纯砷中金属杂质含量的测定。测定范围为1×10-7%~1 000×10-7%。
引用标准:
暂无
相关标准
相关部门
起草单位:
峨嵋半导体材料厂
峨眉山嘉美高纯材料有限公司
相关人员
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