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GB/T 17626.15-2011 电磁兼容 试验和测量技术 闪烁仪 功能和设计规范
Electromagnetic compatibility - Testing and measurement techniques - Flickermeter - Functional and design specifications
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电信、音频和视频工程(33)
电磁兼容性(EMC)(33.100)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
电子元器件与信息技术综合(L00/09)
电磁兼容(L06)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
-
前言:
GB/T17626《电磁兼容 试验和测量技术》分为以下部分:
GB/T17626.1—2006 电磁兼容 试验和测量技术 抗扰度试验总论
GB/T17626.2—2006 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验
GB/T17626.3—2006 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验
GB/T17626.4—2008 电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验
GB/T17626.5—2008 电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验
GB/T17626.6—2008 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度
GB/T17626.7—2008 电磁兼容 试验和测量技术 供电系统及所连设备谐波、谐间波的测量和测量仪器导则
GB/T17626.8—2006 电磁兼容 试验和测量技术 工频磁场抗扰度试验
GB/T17626.9—2011 电磁兼容 试验和测量技术 脉冲磁场抗扰度试验
GB/T17626.10—1998 电磁兼容 试验和测量技术 阻尼振荡磁场抗扰度试验
GB/T17626.11—2008 电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验
GB/T17626.12—1998 电磁兼容 试验和测量技术 振荡波抗扰度试验
GB/T17626.13—2006 电磁兼容 试验和测量技术 交流电源端口谐波、谐间波及电网信号的低频抗扰度试验
GB/T17626.14—2005 电磁兼容 试验和测量技术 电压波动抗扰度试验GB/T17626.15—2011 电磁兼容 试验和测量技术 闪烁仪 功能和设计规范GB/T17626.16—2007 电磁兼容 试验和测量技术 0Hz~150kHz共模传导骚扰抗扰度试验GB/T17626.17—2005 电磁兼容 试验和测量技术 直流电源输入端口纹波抗扰度试验GB/T17626.27—2006 电磁兼容 试验和测量技术 三相电压不平衡抗扰度试验GB/T17626.28—2006 电磁兼容 试验和测量技术 工频频率变化抗扰度试验GB/T17626.29—2006 电磁兼容 试验和测量技术 直流电源输入端口电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验
本部分为GB/T17626的第15部分。
本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本部分等同采用国际标准IEC61000-4-15:1997+A1:2003(第1.1版)《电磁兼容 试验和测量技术 闪烁仪 功能和设计规范》,并进行如下编辑性修改:
———对规范性引用文件中引用的IEC61000-4系列和IEC61010-1标准,因其版本过低,同时考虑到这些标准换版频繁,因此将其对应的国家标准修改为不注日期引用;
———对表4~表8的序号进行了调整。本部分的表4对应IEC61000-4-15:1997+A1:2003中的表8,是2003年修订件的新增表格;为保证标准全文表格序号的连续性,将其表格序号变更为表4,其后所有的表格序号依次调整。
本部分由全国电磁兼容标准化技术委员会(SAC/TC246)提出并归口。
本部分负责起草单位:上海电器科学研究院、上海三基电子工业有限公司。
本部分主要起草人:寿建霞、钱振宇、叶琼瑜、程丽玲、孟志平、刘媛、肖潇、郑军奇、刘晓东。
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适用范围:
本部分规定了闪烁测量仪器的功能和设计规范,旨在为所有实际的电压波动波形显示正确的闪烁感知电平。本部分列出了组建这样一种仪器的信息,并给出了基于符合本部分的闪烁仪的输出结果来评估闪烁严酷度的方法。
本部分有些内容是基于国际电热联盟(UIE)“骚扰”工作组的工作,有些内容是基于IEEE的工作,其他内容是基于IEC本身的工作。本闪烁仪规范,涉及输入为230 V/50 Hz和120 V/60 Hz的测量;对于其他电压和频率的规范正在考虑中。
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引用标准:
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T2423.1—2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温(IEC60068-2-1:2007,IDT)
GB/T2423.2—2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温(IEC60068-2-2:2007,IDT)
GB/T2423.22—2002 电工电子产品环境试验 第2 部分:试验方法 试验N:温度变化(IEC60068-2-14:1984,IDT)
GB4793.1 测量、控制和试验室用电气设备的安全要求 第1部分:通用要求(GB4793.1—2007,IEC61010-1:2001,IDT)
GB/T17626.2 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验(GB/T17626.2—2006,IEC61000-4-2:2001,IDT)
GB/T17626.3 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验(GB/T17626.3—2006,IEC61000-4-3:2002,IDT)
GB/T17626.4 电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验(GB/T17626.4—2008,IEC61000-4-4:2004,IDT)
GB/T17626.5 电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验(GB/T17626.5—2008,IEC61000-4-5:2005,IDT)
GB/T17626.6 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度(GB/T17626.6—2008,IEC61000-4-6:2006,IDT)
GB/T17626.8 电磁兼容 试验和测量技术 工频磁场抗扰度试验(GB/T17626.8—2006,IEC61000-4-8:2001,IDT)
GB/T17626.9 电磁兼容 试验和测量技术 脉冲磁场抗扰度试验(GB/T17626.9—2011,IEC61000-4-9:2001,IDT)
GB/T17626.11 电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验
相关标准
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引用标准:
GB/T 2423.1-2008
GB/T 2423.2-2008
GB/T 2423.22-2002
GB 4793.1
GB/T 17626.2
GB/T 17626.3
GB/T 17626.4
GB/T 17626.5
GB/T 17626.6
GB/T 17626.8
GB/T 17626.9
GB/T 17626.11
GB/T 17626.12
GB/T 18268.1-2010
IEC 60068-2-3:1969
IEC 61326-10
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采用标准:
IEC 61000-4-15:1997+A1:2003(第1.1版) 电磁兼容 第4-15部分:试验和测量技术 闪烁仪 功能和设计规范 (等同采用 IDT)
相关部门
相关人员
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