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GB/T 18858.3-2012 低压开关设备和控制设备 控制器 设备接口(CDI) 第3部分：DeviceNet
Low-voltage switchgear and controlgear - Controller-device interface(CDIs) - Part 3: DeviceNet
基本信息
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标准号：
GB/T 18858.3-2012
-
名称：
低压开关设备和控制设备 控制器 设备接口(CDI) 第3部分：DeviceNet
-
英文名称：
Low-voltage switchgear and controlgear - Controller-device interface(CDIs) - Part 3: DeviceNet
-
状态：
现行
-
类型：
国家标准
-
性质：
推荐性
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发布日期：
2012-11-05
-
实施日期：
2013-02-01
-
废止日期：
暂无
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相关公告：
实施公告【关于批准发布《信息技术射频识别2.45GHz空中接口协议》等2项国家标准的公告】
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分类信息
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ICS分类：
【
电气工程（29）
开关装置和控制器（29.130）
开关装置和控制器综合（29.130.01）
】
-
CCS分类：
【
电工（K）
低压电器（K30/39）
低压电器综合（K30）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
-
前言：
GB/T18858《低压开关设备和控制设备 控制器-设备接口(CDI)》分为3个部分:
———第1部分:总则;
———第2部分:执行器传感器接口(AS-i);
———第3部分:DeviceNet。
本部分为GB/T18858的第3部分。
本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本部分代替GB/T18858.3—2002《低压开关设备和控制设备 控制器-设备接口(CDI) 第3部分:DeviceNet》。
本部分与GB/T18858.3—2002相比,主要存在以下技术性差异:
———5.2基础报文协议中增加了新的服务;
———通过在5.3中引用最新版IEC61158(2007)的相关规定替代前一版本附录中给出的详细的应用层要求;
———5.6新增了相应的安全协议的要求(通过引用IEC61784-3);
———8.2及8.4中对电缆和连接器的连接规范的表现形式进行了更改,并增加了一个新的类型;
———8.10及9.3中新增加了对电磁兼容试验及逻辑试验的安全试验的引用。
本部分等同采用IEC62026-3:2008《低压开关设备和控制设备 控制器-设备接口 第3部分:
DeviceNet》。
本部分由中国电器工业协会提出。
本部分由全国低压电器标准化技术委员会(SAC/TC189)归口。
本部分负责起草单位:上海电器科学研究院、上海电科电器科技有限公司。
本部分参加起草单位:常熟开关制造有限公司、浙江天正电气股份有限公司、杭州科丰电子有限公司、上海电器股份有限公司人民电器厂、法泰电器(江苏)股份有限公司、上海电器设备检测所、中国质量认证中心、上海人民企业集团温州电器有限公司。
本部分主要起草人:阮于东、季慧玉、章建兵。
本部分参加起草人:邵建国、李芃、周志科、李海兵、丁高峰、郑静、张颖、贾颖巍、金灵满。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T18858.3—2002。
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适用范围：
暂无
-
引用标准：
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB4208—2008 外壳防护等级(IP代码)(IEC60529:2001,IDT)
GB4824—2004 工业、科学和医疗(ISM)射频设备 电磁骚扰特性 限值和测量方法(CISPR11:2003,IDT)
GB/T14048.10—2008 低压开关设备和控制设备 第5-2部分:控制电路电器和开关元件 接近开关(IEC60947-5-2:2004,IDT)
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GB/T17626.4—2008 电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验(IEC61000-4-4:2004,IDT)
GB/T17626.5—2008 电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验(IEC61000-4-5:2005,IDT)
GB/T17626.6—2008 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度(IEC61000-4-5:2006,IDT)
GB/T18858.1—2012 低压开关设备和控制设备 控制器-设备接口(CDI) 第1部分:总则(IEC62026-1:2007,IDT)
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