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GB/T 18858.1-2012 低压开关设备和控制设备 控制器 设备接口(CDI) 第1部分: 总则

Low-voltage switchgear and controlgear - Controller-Device interfaces (CDIs) - Part 1: General rules
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 18858.1-2012
  • 名称:
    低压开关设备和控制设备 控制器 设备接口(CDI) 第1部分: 总则
  • 英文名称:
    Low-voltage switchgear and controlgear - Controller-Device interfaces (CDIs) - Part 1: General rules
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2012-11-05
  • 实施日期:
    2013-02-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
分类信息
描述信息
  • 前言:
    GB/T18858《低压开关设备和控制设备 控制器-设备接口》分为3个部分:
    ———第1部分:总则;
    ———第2部分:执行器传感器接口(AS-i);
    ———第3部分:DeviceNet。
    本部分为GB/T18858的第1部分。
    本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
    本部分代替GB/T18858.1—2002《低压开关设备和控制设备 控制器-设备接口(CDI) 第1部分:总则》,与GB/T18858.1—2002相比,主要变化如下:
    ———第2章“规范性引用文件”中更新部分标准的引用版本;
    ———更新表1“抗扰度要求”中部分试验型式及试验水平,采用现行版标准中规定的要求,包括:a) 射频电磁场辐射抗扰度试验中增加1.4GHz~2GHz频段试验范围;
    b) 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验中明确对于包含CDI通信介质的全部电缆,其试验水平为电压峰值1kV/重复频率5kHz;对于所有其他电缆和端口,其试验水平为电压峰值
    2kV/重复频率5kHz。
    本部分等同采用IEC62026-1:2007《低压开关设备和控制设备 控制器-设备接口 第1部分:总则》。
    本部分与IEC62026-1:2007相比,主要做了下列编辑性修改:
    ———删除了IEC62026-1:2007前言;
    ———“本标准”一词改为“本部分”。
    与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下:
    ———GB14048.1—2006 低压开关设备和控制设备 第1部分:总则(IEC60947-1:2007,MOD)。
    本部分由中国电器工业协会提出。
    本部分由全国低压电器标准化技术委员会(SAC/TC189)归口。
    本部分负责起草单位:上海电器科学研究院、上海电科电器科技有限公司。
    本部分参加起草单位:法泰电器(江苏)股份有限公司、常熟开关制造有限公司、上海电器股份有限公司人民电器厂、上海人民企业集团温州电器有限公司、上海电器设备检测所、中国质量认证中心、浙江天正电气股份有限公司。
    本部分主要起草人:黄兢业、季慧玉。
    本部分参加起草人:丁高峰、邵建国、冯俊、金灵满、阮庆州、张颖、贾颖巍、李芃。
    本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
    ———GB/T18858.1—2002。
  • 适用范围:
    本部分适用于在低压开关设备和控制设备与控制器(如可编程控器、个人计算机等)之间的接口。
    本部分不适用于由IEC/SC65C研究的称为现场总线的更高层工业通信网络。
    GB/T 18858的本部分规定了用于工业CDI的定义规则、元件及基本性能要求。有关各类CDI的标准特性可作为基本要求集中列入本部分。
  • 引用标准:
    下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
    GB4824—2004 工业、科学和医疗(ISM)射频设备 电磁骚扰特性 限值和测量方法(IEC/CISPR11:2003,IDT)
    GB/T17626.2—2006 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验(IEC61000-4-2:2001,IDT)
    GB/T17626.3—2006 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验(IEC61000-4-3:2002,IDT)
    GB/T17626.4—2008 电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验(IEC61000-4-4:2004,IDT)
    GB/T17626.5—2008 电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验(IEC61000-4-5:2005,IDT)
    GB/T17626.6—2008 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度(IEC61000-4-6:2006,IDT)
    GB/T17799.2—2003 电磁兼容 通用标准 工业环境中的抗扰度试验(IEC61000-6-2:1999,IDT)
    IEC60947-1:2007 低压开关设备和控制设备 第1部分:总则(Low-voltageswitchgearandcontorlgear—Part1:Generalrules)
相关标准
  • 代替标准:
    GB/T 18858.1-2002
  • 引用标准:
    GB 4824-2004 GB/T 17626.2-2006 GB/T 17626.3-2006 GB/T 17626.4-2008 GB/T 17626.5-2008 GB/T 17626.6-2008 GB/T 17799.2-2003 IEC 60947-1:2007
  • 采用标准:
    IEC 62026-1:2007 低压开关设备和控制设备 控制器 设备接口(CDI) 第1部分: 总则 (等同采用 IDT)
相关部门
  • 提出部门:
    中国电器工业协会
  • 起草单位:
    上海电器科学研究院 上海电科电器科技有限公司
  • 归口单位:
    全国低压电器标准化技术委员会(SAC/TC 189)
  • 主管部门:
    全国低压电器标准化技术委员会(SAC/TC 189)
相关人员
暂无
关联标准