GB/T 12273.501-2012

石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第5.1部分：空白详细规范 鉴定批准

Quartz crystal units A specification in the quality assessment system for electronic components Part 5.1: Blank detail specification- qualification approval

现行

国家标准

推荐性

2012-11-05

2013-02-15

暂无

实施公告【关于批准发布《信息技术射频识别2.45GHz空中接口协议》等2项国家标准的公告】

暂无

本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
GB/T12273《石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范》分为如下几个部分:
———第1部分:总规范;
———第2部分:使用指南;
———第3部分:标准外形和引出端连接;
———第4部分:分规范 能力批准;
———第4.1部分:空白详细规范 能力批准;
———第5部分:分规范 鉴定批准;
———第5.1部分:空白详细规范 鉴定批准。
本部分为GB/T12273的第5.1部分。
本部分代替GB/T15020—1994《电子设备用石英晶体元件 空白详细规范 电阻焊石英晶体元件 评定水平E》,与GB/T15020—1994相比,除编辑性修改外主要变化如下:
———由于本标准的体系增加了分规范,空白详细规范根据分规范修改相应的引用内容;
———删去了应该直接写在分规范中的规定内容;
———标准编号按标准不同部分进行了调整。
本部分使用重新起草法修改采用IEC61178-3-1:1993《石英晶体元件 IEC电子元器件质量评定体系 第3部分:分规范 鉴定批准第一篇:空白详细规范》。
本部分与IEC61178-3-1:1993相比在结构上有调整,原因是:IEC61178-1被IEC60122-1:2002代替,目前IEC61178的其他部分还继续有效。根据IEC60122的预计结构,本部分应为IEC60122的第5.1部分,待修订时即进行编号调整。本部分采用了IEC60122的预计结构。这样的结构清晰并方便使用,并且与IEC有关频率控制和选择用元器件规范结构的调整趋势一致。
本部分作了下列编辑性修改:
———外形和尺寸图由第三视角改为第一视角;
———规范性引用文件中的IEC文件为目前的现行版本。
———用GB/T2828.1—2003代替IEC410:1973 计数检查抽样方案和程序,前者与后者在使用中无技术性差异。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由全国频率控制与选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC182)归口。
本部分起草单位:中国电子元件行业协会压电晶体分会、中国电子技术标准化研究所。
本部分主要起草人:章怡、姜连生、李晓英。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T15020—1994。

优先额定值见GB/T 12273—1996的2.3。
——工作温度范围；
——电路条件；
——最大激励电平；
——激励电平测量；
——气候类别；
——机械试验严酷度。
按本详细规范批准合格的元件制造厂的资料可从IECQC 001005得到。

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T2828.1 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
GB/T12273—1996 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第1 部分:总规范(IEC61178-1:1993,IDT)

GB/T 15020-1994

GB/T 2828.1 GB/T 12273-1996 GB/T 16517-1996 IEC 60122-3:2010 QC 001004:2003 QC 001005:2003

IEC 61178-3-1:1993 石英晶体元件 IEC电子元器件质量评定体系 第3部分：分规范―鉴定批准 第一篇：空白详细规范 （修改采用 MOD）

中国电子技术标准化研究所 中国电子元件行业协会压电晶体分会

182) 全国频率控制与选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC

182) 全国频率控制与选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC