GB/T 12078-2012

X 射线管总规范

General specification for X-ray tubes

2012-11-05

2013-02-15

暂无

实施公告【关于批准发布《信息技术射频识别2.45GHz空中接口协议》等2项国家标准的公告】

本规范按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本规范代替GB/T12078—1989《X射线管总规范》。
本规范与GB/T12078—1989相比主要变化如下:
———采用GB/T10149《医用X射线设备术语和符号》和GB/T4597《电子管词汇》中的相关术语;
———光电性能指标中增加了漏电流,删除了X射线管阳极电流稳定性、栅控X 射线管灯丝栅极间耐压;
———明确了工作耐久性的试验方法;
———引用GB/T2828.1—2003代替原来的计数检查抽样方案程序。
本规范由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本规范由全国电真空器件标准化技术委员会(SAC/TC167)归口。
本规范起草单位:杭州万东电子有限公司。
本规范主要起草人:胡海洪、田丰、傅勇敏、俞晓妹、胡有成。
本规范所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T12078—1989。

本规范规定了Ｘ射线管术语、定义、符号、要求、试验方法、质量评定程序、标志、合格证、产品说明书以及包装、运输和贮存
本规范适用于各种类型的Ｘ射线管。

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T191 包装储运图示标志
GB/T2423.1—2001 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温
GB/T2423.2—2001 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温
GB/T2423.3—2006 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验
GB/T2423.5—1995 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击
GB/T2423.10—2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc:振动(正弦)
GB/T2423.16—1999 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验J及导则:长霉
GB/T2423.17—2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ka:盐雾
GB/T2423.21—1991 电工电子产品基本环境试验规程 试验M:低气压试验方法
GB/T2423.22—2002 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化
GB/T2828.1—2003 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
GB/T2987 电子管参数符号
GB/T4597 电子管词汇
GB/T10149 医用X射线设备术语和符号
GB/T12079 X射线管光电性能测试方法
SJ/T10624 X射线管寿命试验方法

GB/T 191 GB/T 2423.1-2001 GB/T 2423.2-2001 GB/T 2423.3-2006 GB/T 2423.5-1995 GB/T 2423.10-2008 GB/T 2423.16-1999 GB/T 2423.17-2008 GB/T 2423.21-1991 GB/T 2423.22-2002 GB/T 2828.1-2003 GB/T 2987 GB/T 4597 GB/T 10149 GB/T 12079 SJ/T 10624

全国电真空器件标准化技术委员会(SAC/TC 167)

全国电真空器件标准化技术委员会(SAC/TC 167)