GB/T 5080.2-2012

可靠性试验 第2部分：试验周期设计

Reliability testing - Part 2: Design of test cycles

2012-11-05

2013-02-15

暂无

实施公告【关于批准发布《信息技术射频识别2.45GHz空中接口协议》等2项国家标准的公告】

GB/T5080《可靠性试验》分为六个部分:
———第1部分:试验条件和统计检验原理;
———第2部分:试验周期设计;
———第4部分:指数分布情况下的点估计、置信区间、预测区间和容许区间统计方法;
———第5部分:成功率的验证试验方案;
———第6部分:恒定失效率假设的有效性检验;
———第7部分:恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案。
注:上面所列之所以缺少第3部分,是因为对应于IEC的相应部分是国标GB/T7288。
本部分为GB/T5080的第2部分。
本部分根据GB/T1.1—2009和GB/T20000.2—2009给出的规则起草。
本部分代替GB/T5080.2—1986《设备可靠性试验 试验周期设计导则》。本次修订没有技术内
容上的改动。
本部分使用翻译法等同采用IEC605-2:1994《设备可靠性试验 第2部分:试验周期设计导则》。
本部分做了编辑性修改,编辑性差异主要体现在:
———将标准的标题《设备可靠性试验 试验周期设计导则》修改为《可靠性试验 第2部分:试验周期设计》;
———通篇“设备”改为“产品”;
———增加了“规范性引用文件”的内容。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由全国电工电子产品可靠性与维修性标准化技术委员会(SAC/TC24)归口。
本部分起草单位:工业和信息化部电子第五研究所、北京大学。
本部分主要起草人:时钟、阳川、汪凯蔚、房祥忠。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T5080.2—1986。

暂无

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GB/T2421~2424系列 电子电工产品基本环境试验规程(idtIEC60068)
GB/T2900.13—2008 电工术语 可信性与服务质量(IEC60050(191):1990,IDT)
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北京大学 工业和信息化部电子第五研究所

全国电工电子产品可靠性与维修性标准化技术委员会(SAC/TC 24)