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GB/T 5080.1-2012 可靠性试验 第1部分:试验条件和统计检验原理
Reliability testing - Part 1: Test conditions and statistical test principles基本信息
- 标准号:GB/T 5080.1-2012
- 名称:可靠性试验 第1部分:试验条件和统计检验原理
- 英文名称:Reliability testing - Part 1: Test conditions and statistical test principles
- 状态:现行
- 类型:国家标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:2012-11-05
- 实施日期:2013-02-15
- 废止日期:暂无
- 相关公告:
分类信息
- ICS分类:【 】、【 】
- CCS分类:【 】
- 行标分类:暂无
描述信息
- 前言:GB/T5080《可靠性试验》分为六个部分:
———第1部分:试验条件和统计检验原理;
———第2部分:试验周期设计;
———第4部分:指数分布情况下的点估计、置信区间、预测区间和容许区间统计方法;
———第5部分:成功率的验证试验方案;
———第6部分:恒定失效率假设的有效性检验;
———第7部分:恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案。
注:上面所列之所以缺少第3部分,是因为对应于IEC的相应部分是国家标准GB/T7288.1—1987《设备可靠性试验 推荐的试验条件 室内便携设备 粗模拟》和GB/T7288.2—1987《设备可靠性试验 推荐的试验条件 固定使用在有气候防护场所设备 精模拟》。
本部分为GB/T5080的第1部分。
本部分按照GB/T1.1—2009和GB/T20000.2—2009给出的规则起草。
本部分代替GB/T5080.1—1986《设备可靠性试验 总要求》。
本部分与GB/T5080.1—1986相比主要变化有:
———本部分的相关内容需要与IEC标准的技术内容一致,但目前尚没有与IEC标准对应的国家标准,因此在规范性引用文件中直接引用IEC标准;
———标准结构采用IEC60300-3-5:2001的结构,对GB/T5080.1—1986中重复内容进行整合;
———增加了可靠性比较试验的内容(见5.3);
———增加了冗余产品的失效的内容(见7.2.2.3);
———增加了试验数据分析的内容(见第8章);
———增加了统计工具和分析方法的内容(见第9章);
———增加了两个资料性附录的内容(见附录A、附录B);
———删除了GB/T5080.1—1986第13章的内容;
———删除了GB/T5080.1—1986附录A 的内容。
本部分使用翻译法等同采用IEC60300-3-5∶2001《可信性管理 第3-5部分:应用指南 可靠性试验条件和统计检验原理》(英文版)。
与本部分中规范性引用的国际标准有一致性对应关系的我国国家标准如下:
———GB/T5080.5—200× 可靠性试验 成功率的验证试验方案(IEC61123:1991,IDT)
———GB/T5080.7—200× 可靠性试验 恒定失效率和恒定失效强度的验证试验(IEC61124:1997,IDT)
———GB/T5081—200× 现场可信性数据收集(IEC60300-3-2:1993,IDT)
———GB/T7829—200× 故障树分析(FTA)程序(IEC61025:1990,IDT)
上述国家标准已经在修订中。
本部分与IEC60300-3-5:2001相比存在差异如下:
———在规范性引用文件中增加GB/T7288(所有部分)的引用。
———本部分的3.1“术语和定义”的条编号作了编辑性修改,即由于IEC60300-3-5:2001的3.1.6determinationtest和3.1.8estimationtest两个术语,在汉语上是一个术语“测定试验”,且定义是一致的,因此将它们合并成本部分的3.1.6 测定试验determinationtest/estimation
GB/T5080.1—2012/IEC60300-3-5:2001
test。本部分的3.1“术语与定义”的条编号3.1.8~3.1.41对应于IEC60300-3-5:2001的3.1Termsanddefinitions的条编号3.1.9~3.1.42。
———在参考文献中增加GB/T9414(所有部分)、GB/T15174—1994和IEC61704的标准文献。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由全国电工电子产品可靠性与维修性标准化技术委员会(SAC/TC24)归口。
本部分起草单位:工业和信息化部电子第五研究所、北京航空工程技术研究中心。
本部分主要起草人:邝志礼、李新祥、张蕊、梅文华。
本部分所代替标准的历次版本发布情况:
———GB/T5080.1—1986。
GB/T5080.1—2012/IEC60300-3-5:2001 - 适用范围:暂无
- 引用标准:下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T2421~2424(所有部分) 电工电子产品 环境试验(IEC60068(所有部分))
GB/T2900.13—2008 电工术语 可信性与服务质量(IEC60050(191):1990,IDT)
GB/T5080.2—2012 可靠性试验 第2部分:试验周期设计(IEC605-2:1994,IDT)
GB/T5080.4—1985 设备可靠性试验 可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布)(idtIEC60605-4:1978)
GB/T5080.6—1996 设备可靠性试验 恒定失效率假设的有效性检验(IEC60605-6:1997,IDT)
GB/T6992.2—1997 可信性管理 第2部分:可信性大纲要素和工作项目(IEC60300-2:1995,IDT)
相关标准
- 代替标准:GB/T 5080.1-1986
- 采用标准:IEC 60300-3-5:2001 可信性管理 第3-5部分:应用指南 可靠性试验条件和统计检验原理 (等同采用 IDT)
相关部门
- 起草单位:工业和信息化部电子第五研究所 北京航空工程技术研究中心
- 归口单位:全国电工电子产品可靠性与维修性标准化技术委员会(SAC/TC 24)
- 主管部门:工业和信息化部(电子)
相关人员
暂无
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