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GB/T 18910.1-2012 液晶显示器件 第1部分:总规范

Liquid crystal display devices - Part 1:Generic specification
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 18910.1-2012
  • 名称:
    液晶显示器件 第1部分:总规范
  • 英文名称:
    Liquid crystal display devices - Part 1:Generic specification
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2012-12-31
  • 实施日期:
    2013-06-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
分类信息
描述信息
  • 前言:
    GB/T18910《液晶显示器件》分为如下部分:
    ———第1部分:总规范;
    ———第1-1部分:术语和符号;
    ———第2部分:液晶显示模块 分规范(GB/T18910.2—2003,IEC61747-2:1998,IDT);
    ———第2-1部分:无源矩阵单色液晶显示模块 空白详细规范(GB/T18910.21—2007,IEC61747-2-1:1998,IDT);
    ———第2-2部分:彩色矩阵液晶显示模块 空白详细规范(GB/T18910.22—2008,IEC61747-2-2:2004,IDT);
    ———第3部分:液晶显示屏 分规范(GB/T18910.3—2008,IEC61747-3:1998,IDT);
    ———第3-1部分:液晶显示屏 空白详细规范;
    ———第4部分:液晶显示模块和屏 基本额定值和特性(GB/T18910.4—2007,IEC61747-4:1998,IDT);
    ———第4-1部分:彩色矩阵液晶显示模块 基本额定值和特性(GB/T18910.41—2008,IEC61747-4-1:2004,IDT);
    ———第5部分:环境、耐久性和机械试验方法(GB/T18910.5—2008,IEC61747-2:1998,IDT);
    ———第6部分:液晶显示器件测试方法系列标准。
    本部分为GB/T18910的第1部分。
    本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
    本部分代替GB/T18910.1—2002《液晶和固态显示器件 第1部分:总规范》。
    本部分与GB/T18910.1—2002相比主要变化及其原因,在附录A 中给出以供参考。
    本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
    本部分由中国电子技术标准化研究院(CESI)归口。
    本部分起草单位:中国电子技术标准化研究院。
    本部分主要起草人:赵英。
    本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
    ———GB/T18910.2—2002。
  • 适用范围:
    GB/T 18910的本部分是液晶显示器件的总规范。它规定了IECQ体系质量评定的通用程序,并给出了电光特性测试方法的通用要求,给出了气候、机械和耐久性试验方法。
    本部分适用于液晶显示器件,包括液晶显示屏和液晶显示模块。
  • 引用标准:
    下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
    GB/T4589.1—2006 半导体器件 第10 部分:分立器件和集成电路总规范(IEC60747-10:1991,IDT)
    GB/T17573—1998 半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则(idtIEC60747-1:1983)
    GB/T18910.5—2008 液晶和固态显示器件 第5 部分:环境、耐久性和机械试验方法(IEC61747-5:1998,IDT)
    GB/T18910.11—2012 液晶显示器件 第1-1部分:术语和符号
    GB/T18910.61—2012 液晶显示器件 第6-1部分:液晶显示器件测试方法 光电参数IEC60068(所有部分) 环境试验(Environmentaltesting)
    IEC60410:1973 计数检查抽样方案和程序(Samplingplansandproceduresforinspectionbyattributes)
    IEC60747(所有部分) 半导体器件 分立器件(Semiconductordevices—Discretedevices)
    IEC60748(所有部分) 半导体器件 集成电路(Semiconductordevices—Integratedcircuits)
    IEC60749:1996 半导体器件 机械和气候试验方法(Semiconductordevices—Mechanicalandclimatictestmethods)
    QC001002:1986 IECQ 电子元器件质量评定体系的程序规则(RulesofProcedureoftheIEC
    QualityAssessmentSystemforElectronicComponents(IECQ))
    ISO1101:1983 技术制图 几何公差 形状、位置和偏差公差 总则、定义、符号和图样表示法
    (Technicaldrawings—Geometricaltolerancing—Tolerancingofform,orientation,locationandrunout—
    Generalities,definitions,symbols,indicationsondrawings)
    ISO2859(所有部分) 计数检查抽样程序(Samplingproceduresforinspectionbyattributes)
相关标准
  • 代替标准:
    GB/T 18910.1-2002
  • 引用标准:
    GB/T 4589.1-2006 GB/T 17573-1998 GB/T 18910.5-2008 GB/T 18910.11-2012 GB/T 18910.61-2012 IEC 60068(所有部分) IEC 60410:1973 IEC 60747(所有部分) IEC 60748(所有部分) IEC 60749:1996 QC 001002:1986 ISO 1101:1983 ISO 2859(所有部分)
相关部门
  • 起草单位:
    中国电子技术标准化研究院
  • 主管部门:
    工业和信息化部(电子)
  • 归口单位:
    中国电子技术标准化研究院(CESI)
相关人员
暂无