收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 20296-2012 集成电路记忆法与符号
Mnemonics and symbols for integrated ciruuits基本信息
- 标准号:GB/T 20296-2012
- 名称:集成电路记忆法与符号
- 英文名称:Mnemonics and symbols for integrated ciruuits
- 状态:现行
- 类型:国家标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:2012-12-31
- 实施日期:2013-07-01
- 废止日期:暂无
- 相关公告:
分类信息
- ICS分类:【 】
- CCS分类:【 】
- 行标分类:暂无
描述信息
- 前言:本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准代替GB/T20296—2006《集成电路记忆法与符号》。
本标准与GB/T20296—2006相比主要变化如下:
———全文中符号编号的表述改为新版GB/T4728的表述方式;
———增加了第2章规范性引用文件;
———将正文中GB/T4728.13改为:模拟,GB/T4728.12改为:二进制逻辑;
———将IEC821改为:IEC60821;
———将CCITT 改为:ITU-T;
———在第3章的限定符号X/Y或X//Y说明中删除了二进制逻辑,限定符号X+Y、X-Y、XY、XY
及第4章中标记H 的说明里将模拟二字去掉。
本标准等同采用IECTR61352:2006《集成电路记忆法与符号》。
本标准对IECTR61352:2006《集成电路记忆法与符号》进行了编辑性修改。
本标准由全国电气信息结构、文件编制和图形符号标准化技术委员会(SAC/TC27)提出并归口。
本标准负责起草单位:工业和信息化部电子技术标准化研究院、中国航空规划建设发展有限公司、合肥瑞齐信息科技有限公司、中机生产力促进中心、中国建筑标准化研究院。
本标准主要起草人:徐云驰、陈泽毅、张深广、高永梅、徐玲献。
本标准所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T20296—2006。 - 适用范围:暂无
- 引用标准:下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T4728(所有部分) 电气简图用图形符号[IEC60617(所有部分)]
IEC60821VME 总线 1 字节至4 字节数据用微处理系统总线(VMEbus—Microprocessor systembusfor1byteto4bytedata)
ITU-TV.24 数据终端设备(DTE)和数据电路端接设备(DCE)间的接口电路定义表[Listof definitionsforinterchangecircuitsbetweendataterminalequipment(DTE)anddatacircuit-terminatingequipment(
DCE)]
相关标准
- 代替标准:GB/T 20296-2006
- 引用标准:GB/T 4728(所有部分) IEC 60821 VME总线 ITU-T V.24
- 采用标准:IEC TR 61352:2006 集成电路的记忆法与符号 (等同采用 IDT)
相关部门
- 起草单位:中机生产力促进中心 中国航空规划建设发展有限公司 合肥瑞齐信息科技有限公司 工业和信息化部电子技术标准化研究院 中国建筑标准化研究院
- 提出部门:全国电气信息结构
- 归口单位:全国电气信息结构 文件编制和图形符号标准化技术委员会(SAC/TC 27)
- 主管部门:全国电气信息结构 文件编制和图形符号标准化技术委员会(SAC/TC 27)
相关人员
暂无
关联标准
- GB/T 3430-1989 半导体集成电路型号命名方法
- GB/T 16466-1996 膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用能力批准程序)
- SJ 52438/14-2004 混合集成电路HPA501J型功率放大器详细规范
- GB/T 20296-2006 集成电路记忆法与符号
- SJ/Z 11361-2006 集成电路IP核保护大纲
- SJ/Z 11359-2006 集成电路IP核开发与集成的功能验证分类法
- GB/T 15297-1994 微电路模块机械和气候试验方法
- SJ/T 11708-2018 功率电机驱动器测试方法
- GB/T 26112-2010 微机电系统(MEMS)技术 微机械量评定总则
- GB/T 11498-2018 半导体器件 集成电路 第21部分:膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)
- GB/T 4855-1984 半导体集成电路线性放大器系列和品种
- SJ/T 10805-2018 半导体集成电路 电压比较器测试方法
- SJ 20938-2005 微波电路变频测试方法
- SJ/T 11704-2018 微电子封装的数字信号传输特性测试方法
- GB/T 15879.5-2018 半导体器件的机械标准化 第5部分:用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值
- GB/T 35086-2018 MEMS电场传感器通用技术条件
- GB/T 16526-1996 封装引线间电容和引线负载电容测试方法
- GB/T 14028-1992 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
- GB/T 26113-2010e 微机电系统(MEMS)技术微几何量评定总则
- GB/T 38341-2019 微机电系统(MEMS)技术 MEMS器件的可靠性综合环境试验方法