收藏到云盘
纠错反馈
DB53/T 495-2013 云南省高原型高压变频装置
基本信息
- 标准号:DB53/T 495-2013
- 名称:云南省高原型高压变频装置
- 公告名称:高原型高压变频装置
- 英文名称:暂无
- 状态:现行
- 类型:地方标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:2013-08-01
- 实施日期:2013-10-01
- 废止日期:暂无
- 相关公告:
分类信息
- ICS分类:【 】
- CCS分类:暂无
- 行标分类:暂无
描述信息
- 前言:暂无
- 适用范围:暂无
- 引用标准:暂无
相关标准
暂无
相关部门
- 起草单位:昆明高海拔电器检测有限公司 昆明兴三方电器科技有限公司 昆明电器科学研究所负责起草
相关人员
暂无
关联标准
- GB/T 7581-1987 半导体分立器件外形尺寸
- SJ/T 2658.8-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第8部分:辐射强度
- GB/T 8446.1-1987 电力半导体器件用散热器
- SJ 50033/166-2004 半导体分立器件3DA507型硅微波脉冲功率晶体管详细规范
- SJ/T 2658.12-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第12部分:峰值发射波长和光谱辐射带宽
- SJ 50033/169-2004 半导体分立器件3DA510型硅微波脉冲功率晶体管详细规范
- SJ/T 2658.9-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第9部分:辐射强度空间分布和半强度角
- GB/T 8446.3-1988 电力半导体器件用散热器 绝缘件和紧固件
- GB/T 8446.2-1987 电力半导体器件用散热器热阻和流阻测试方法
- GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法
- GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
- GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则
- SJ/T 2658.5-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第5部分:串联电阻
- GB/T 8446.3-2004 电力半导体器件用散热器 第3部分:绝缘件和紧固件
- SJ 50033/167-2004 半导体分立器件3DA508型硅微波脉冲功率晶体管详细规范
- SJ 20972-2007 电荷耦合成像组件通用规范
- SJ/T 2658.11-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第11部分:响应时间
- SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
- SJ/T 11460.3.3-2016 液晶显示用背光组件 第3-3部分:电视接收机用LED背光组件空白详细规范
- GB/T 32872-2016 空间科学照明用LED筛选规范