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GB/T 29055-2012 太阳电池用多晶硅片

Multi-crystalline silicon wafer for solar cell
基本信息
分类信息
描述信息
  • 前言:
    标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
    本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC203/SC2)归口。
    本标准起草单位:江西赛维LDK太阳能高科技有限公司、宁波晶元太阳能有限公司、无锡尚德太阳能电力有限公司。
    本标准主要起草人:万跃鹏、唐骏、孙世龙、游达、朱华英、刘林艳、段育红。
  • 适用范围:
    本标准规定了太阳电池用多晶硅片的术语定义、符号及缩略语、产品分类、技术要求、试验方法、检测规则以及标志、包装、运输、贮存等。
    本标准适用于铸锭多晶切片垂直于长晶方向生产的太阳电池用多晶硅片。
  • 引用标准:
    下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
    GB/T1550 非本征半导体材料导电类型测试方法
    GB/T1551 硅单晶电阻率测定方法
    GB/T2828.1 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
    GB/T6616 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法
    GB/T6618 硅片厚度和总厚度变化测试方法
    GB/T6619 硅片弯曲度测试方法
    GB/T14264 半导体材料术语
    GB/T29054 太阳能级铸造多晶硅块
    SEMIMF1535 用微波反射非接触光电导衰减方法测试硅晶片载流子复合寿命的方法
相关标准
  • 引用标准:
    GB/T 1550 GB/T 1551 GB/T 2828.1 GB/T 6616 GB/T 6618 GB/T 6619 GB/T 14264 GB/T 29054 SEMI MF1535
相关部门
  • 归口单位:
    2) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC
  • 主管部门:
    2) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC
  • 起草单位:
    江西赛维LDK太阳能高科技有限公司 无锡尚德太阳能电力有限公司 宁波晶元太阳能有限公司
相关人员
暂无