收藏到云盘
纠错反馈
DB65/T 3486-2013 新疆维吾尔自治区太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法
基本信息
-
标准号:
DB65/T 3486-2013
-
名称:
新疆维吾尔自治区太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法
-
公告名称:
太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法
-
英文名称:
暂无
-
状态:
现行
-
类型:
地方标准
-
性质:
推荐性
-
发布日期:
2013-10-20
-
实施日期:
2013-12-01
-
废止日期:
暂无
-
相关公告:
实施公告【2015年第2号(总第182号)】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类:
【
电气工程(29)
半导体材料(29.045)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
半金属与半导体材料(H80/84)
半金属与半导体材料综合(H80)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 11071-2006
区熔锗锭
-
GB/T 20229-2022
磷化镓单晶
-
GB/T 29850-2013
光伏电池用硅材料补偿度测量方法
-
SJ/T 11496-2015
红外吸收法测量砷化镓中硼含量
-
GB/T 25074-2017e
太阳能级多晶硅
-
GB/T 1554-2009
硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
-
GB/T 41652-2022
刻蚀机用硅电极及硅环
-
GB/T 24575-2009
硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法
-
GB/T 30855-2014
LED外延芯片用磷化镓衬底
-
SJ/T 11503-2015
碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法
-
GB/T 24581-2009
低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法
-
GB/T 29057-2012
用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程
-
GB/T 16595-1996
晶片通用网格规范
-
SJ/T 11491-2015
短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
-
GB/T 29508-2013
300mm 硅单晶切割片和磨削片
-
YS/T 224-1994
铊
-
GB/T 25076-2010
太阳电池用硅单晶
-
GB/T 17170-1997
非掺杂半绝缘砷化镓单晶深能级EL2浓度红外吸收测试方法
-
GB/T 6620-2009
硅片翘曲度非接触式测试方法
-
YS/T 23-1992
硅外延层厚度测定堆垛层错尺寸法