收藏到云盘
纠错反馈
DB65/T 3485-2013 新疆维吾尔自治区太阳能级多晶硅块少数载流子寿命测量方法
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电气工程(29)
半导体材料(29.045)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
半金属与半导体材料(H80/84)
半金属与半导体材料综合(H80)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 31092-2014
蓝宝石单晶晶锭
-
GB/T 1555-2009
半导体单晶晶向测定方法
-
GB/T 20230-2022
磷化铟单晶
-
YS/T 1167-2016
硅单晶腐蚀片
-
GB/T 8756-2018
锗晶体缺陷图谱
-
YS/T 1061-2015
改良西门子法多晶硅用硅芯
-
GB/T 12962-2005
硅单晶
-
GB/T 12965-2018
硅单晶切割片和研磨片
-
YS/T 28-1992
硅片包装
-
GB/T 30656-2014
碳化硅单晶抛光片
-
GB/T 6618-2009
硅片厚度和总厚度变化测试方法
-
GB/T 35308-2017
太阳能电池用锗基Ⅲ-Ⅴ族化合物外延片
-
GB/T 14139-2019
硅外延片
-
SJ/T 11493-2015
硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法
-
GB/T 35316-2017
蓝宝石晶体缺陷图谱
-
YS/T 977-2014
单晶炉碳/碳复合材料保温筒
-
GB/T 26071-2010
太阳能电池用硅单晶切割片
-
GB/T 12963-2009
硅多晶
-
YS/T 679-2008
非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法
-
GB/T 29507-2013
硅片平整度、厚度及总厚度变化测试 自动非接触扫描法