收藏到云盘
纠错反馈
DB35/T 1370-2013 福建省发光二极管芯片点测方法
基本信息
-
标准号:
DB35/T 1370-2013
-
名称:
福建省发光二极管芯片点测方法
-
公告名称:
发光二极管芯片点测方法
-
英文名称:
暂无
-
状态:
现行
-
类型:
地方标准
-
性质:
推荐性
-
发布日期:
2013-12-04
-
实施日期:
2014-03-01
-
废止日期:
暂无
-
相关公告:
实施公告【2014年第8号(总第176号)】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
光电子学、激光设备(31.260)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
半导体分立器件(L40/49)
微波、毫米波二、三极管(L45)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 26599.1-2011
激光和激光相关设备 激光光束宽度、发散角和光束传输比的试验方法 第1部分:无像散和简单像散光束
-
DB42/T 864-2012
湖北省数控激光切割机床安全防护规范
-
GB/T 27666-2011
制造用激光器光束质量的评价和测试方法
-
JB/T 9491-1999
氦氖激光器 主要参数 测试方法
-
GB/T 27661-2011
激光棒单程损耗系数的测量方法
-
DB44/T 1639.1-2015
广东省半导体照明标准光组件总则 第1部分 层级划分
-
GB/T 36613-2018
发光二极管芯片点测方法
-
GB/T 15649-1995
半导体激光二极管空白详细规范
-
SJ/T 11401-2009
半导体发光二极管产品系列型谱
-
SJ/T 11394-2009
半导体发光二极管测试方法
-
DB35/T 1193-2011
福建省半导体发光二极管芯片
-
GB/Z 18462-2001
激光加工机械 金属切割的性能规范与标准检查程序
-
GB/T 11297.5-1989
掺钕钇铝石榴石激光棒连续激光阈值、斜率效率和输出功率的测量方法
-
GB/T 10320-2011
激光设备和设施的电气安全
-
GB/T 12083-2012
气体激光器电源系列
-
GB/T 15167-1994
半导体激光光源总规范
-
GB/T 13706-1992
光电管总规范 (可供认证用)
-
GB/T 4799-2011
激光器型号命名方法
-
GB/T 15301-1994
气体激光器总规范
-
GB/T 16601.3-2017
激光器和激光相关设备 激光损伤阈值测试方法 第3部分:激光功率(能量)承受能力确信