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DB35/T 1370-2013 福建省发光二极管芯片点测方法
基本信息
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标准号：
DB35/T 1370-2013
-
名称：
福建省发光二极管芯片点测方法
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公告名称：
发光二极管芯片点测方法
-
英文名称：
暂无
-
状态：
现行
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类型：
地方标准
-
性质：
推荐性
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发布日期：
2013-12-04
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实施日期：
2014-03-01
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废止日期：
暂无
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相关公告：
实施公告【2014年第8号(总第176号)】
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分类信息
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ICS分类：
【
电子学（31）
光电子学、激光设备（31.260）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
半导体分立器件（L40/49）
微波、毫米波二、三极管（L45）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
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