收藏到云盘
纠错反馈

DB35/T 1370-2013 福建省发光二极管芯片点测方法

基本信息
  • 标准号：
    DB35/T 1370-2013
  • 名称：
    福建省发光二极管芯片点测方法
  • 公告名称：
    发光二极管芯片点测方法
  • 英文名称：
    暂无
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    地方标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2013-12-04
  • 实施日期：
    2014-03-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【2014年第8号(总第176号)】
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    暂无
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
  • 起草单位：
    厦门市产品质量监督检验院 厦门市三安光电科技有限公司 国家半导体发光器件（LED）应用产品质量监督检验中心 国家半导体发光器件(LED)应用产品质量监督检验中心 福建省光电行业协会
相关人员
暂无
关联标准