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DB35/T 1370-2013 福建省发光二极管芯片点测方法

基本信息
  • 标准号:
    DB35/T 1370-2013
  • 名称:
    福建省发光二极管芯片点测方法
  • 公告名称:
    发光二极管芯片点测方法
  • 英文名称:
    暂无
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    地方标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2013-12-04
  • 实施日期:
    2014-03-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【2014年第8号(总第176号)】
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分类信息
  • ICS分类:
    电子学(31) 光电子学、激光设备(31.260)
  • CCS分类:
    电子元器件与信息技术(L) 半导体分立器件(L40/49) 微波、毫米波二、三极管(L45)
  • 行标分类:
    暂无
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    暂无
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
  • 起草单位:
    厦门市产品质量监督检验院 厦门市三安光电科技有限公司 国家半导体发光器件(LED)应用产品质量监督检验中心 国家半导体发光器件(LED)应用产品质量监督检验中心 福建省光电行业协会
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暂无
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