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YS/T 901-2013 高纯钨化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法
Methods for chemical analysis of high purity tungsten—Determination of trace impurity element content—Glow discharge mass spectrometry基本信息
- 标准号:YS/T 901-2013
- 名称:高纯钨化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法
- 英文名称:Methods for chemical analysis of high purity tungsten—Determination of trace impurity element content—Glow discharge mass spectrometry
- 状态:现行
- 类型:行业标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:2013-10-17
- 实施日期:2014-03-01
- 废止日期:暂无
- 相关公告:
分类信息
- ICS分类:【 】
- CCS分类:【 】
- 行标分类:【 】
描述信息
- 前言:本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准由全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243)归口。
本标准起草单位:北京有色金属研究总院、金川新材料科技股份有限公司、东方电气集团峨嵋半导体材料有限公司。
本标准主要起草人:李宝城、刘英、孙泽明、童坚、李继东、臧慕文、李娜、程紫辉、张江峰、邱平、秦芳林、文英、王攀峰。 - 适用范围:本标准规定了高纯钨中痕量元素含量的测定方法,测定元素见表1。
本标准适用于高纯钨中痕量元素含量的测定。各元素测定范围为1 μg/kg~5 000 μg/kg。 - 引用标准:暂无
相关标准
暂无
相关部门
- 起草单位:北京有色金属研究总院 东方电气集团峨嵋半导体材料有限公司 金川新材料科技股份有限公司
相关人员
暂无
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