GB/T 17444-2013

红外焦平面阵列参数测试方法

Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays

现行

国家标准

推荐性

2013-11-12

2014-04-15

暂无

实施公告【关于批准发布《坑木》等194项国家标准的公告】

暂无

本标准按照GB1.1—2009给出的规则起草。
本标准代替GB/T17444—1998《红外焦平面阵列特性参数测试技术规范》,与GB/T17444—1998相比主要变化如下:
———标准名称修改为《红外焦平面阵列参数测试方法》。
———增加了一些参数定义,如:红外焦平面阵列、像元、帧频、行频、固定图形噪声、平均峰值探测率、饱和信号电压、像元噪声等效温差。
———增加一些参数测试方法,如:固定图形噪声、读出速率、帧频。
———增加了附录D《调制传递函数测试方法》、附录E《非线性度测试方法》。
———修改了部分参数的名称和定义,如:积分时间、读出速率、辐照功率、辐照能量、饱和辐照功率、死像元、过热像元、噪声等效功率。
———修改了部分参数的测试方法,如:响应率、噪声电压、噪声等效温差、探测率、动态范围、相对光谱响应、串音。
本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本标准由工业和信息化部电子工业标准化研究所归口。
本标准起草单位:中国科学院上海技术物理研究所。
本标准主要起草人:丁瑞军、梁平治、唐红兰、陈洪雷、曹妩媚、殷建军、陈世军。
本部所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T17444—1998。

本标准对红外焦平面阵列特性参数及相关量进行了定义。
本标准给出了红外焦平面阵列特性参数的测试方法及测试条件。
本标准适用于线列和面阵红外焦平面阵列。

暂无

GB/T 17444-1998

中国科学院上海技术物理研究所

工业和信息化部电子工业标准化研究所

工业和信息化部电子工业标准化研究所