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GB/T 30110-2013 空间红外探测器碲镉汞外延材料参数测试方法
Measuring methods of parameters of HgCdTe epilayers used for space infrared detectors
基本信息
分类信息
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ICS分类：
【
航空器和航天器工程（49）
航空航天用电气设备和系统（49.060）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
半金属与半导体材料（H80/84）
半金属与半导体材料综合（H80）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
-
前言：
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准由全国空间科学及其应用标准化技术委员会(SAC/TC312)归口。
本标准起草单位:中国科学院上海技术物理研究所、中国电子科技集团第十一研究所、中国兵器工业集团昆明物理研究所。
本标准主要起草人:杨建荣、周立庆、魏彦锋、折伟林、孙士文、陈路、王金义、何力。
-
适用范围：
本标准规定了空间红外探测器用碲镉汞（HgCdTe）外延材料性能参数的测试方法和测试设备要求。
本标准适用于空间红外探测器用碲镉汞外延材料的参数测试，其他用途的碲镉汞外延材料参数的测试可参照使用。
-
引用标准：
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
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GJB1485 材料物理性能测试方法的精密度、精确度和不确定度
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相关标准
相关部门
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起草单位：
中国科学院上海技术物理研究所
中国电子科技集团第十一研究所
中国兵器工业集团昆明物理研究所
-
归口单位：
全国空间科学及其应用标准化技术委员会(SAC/TC
312)
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主管部门：
全国空间科学及其应用标准化技术委员会(SAC/TC
312)
相关人员
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