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GA/T 1171-2014 芯片相似性比对检验方法

Examination methods for similarity comparison of integrated circuit chips
基本信息
  • 标准号：
    GA/T 1171-2014
  • 名称：
    芯片相似性比对检验方法
  • 英文名称：
    Examination methods for similarity comparison of integrated circuit chips
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    行业标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2014-07-09
  • 实施日期：
    2014-07-09
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【2015年第4号(总第184号)】
分类信息
描述信息
  • 前言：
    本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
    本标准由公安部第三研究所提出。
    本标准由公安部信息系统安全标准化技术委员会归口。
    本标准起草单位:公安部第三研究所。
    本标准主要起草人:沙晶、金波、杭强伟、蔡立明、徐隽。
  • 适用范围：
    本标准规定了集成电路芯片相似性比对检验方法。
    本标准适用于集成电路芯片相似性比对，检验集成电路芯片设计的相似性。
  • 引用标准：
    下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
    GA/T756—2008 数字化设备证据数据发现提取固定方法
    GA/T976—2012 电子数据法庭科学鉴定通用方法
相关标准
  • 引用标准：
    GA/T 756-2008 GA/T 976-2012
相关部门
  • 提出部门：
    公安部第三研究所
  • 起草单位：
    公安部第三研究所
相关人员
暂无
关联标准