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GB/T 11446.7-2013 电子级水中痕量阴离子的离子色谱测试方法

Test method for trace anion in electronic grade water by ion chromatography
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 11446.7-2013
  • 名称:
    电子级水中痕量阴离子的离子色谱测试方法
  • 英文名称:
    Test method for trace anion in electronic grade water by ion chromatography
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2013-12-31
  • 实施日期:
    2014-08-15
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【关于批准发布《化学试剂甲醛溶液》等567项国家标准和45项国家标准样品的公告】
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分类信息
  • ICS分类:
    电子学(31) 电子技术专用材料(31.030)
  • CCS分类:
    电子元器件与信息技术(L) 电子设备与专用材料、零件、结构件(L90/94) 电子技术专用材料(L90)
  • 行标分类:
    暂无
描述信息
  • 前言:
    GB/T11446预计结构如下:
    ———GB/T11446.1 电子级水;
    ———GB/T11446.2 (待定);
    ———GB/T11446.3 电子级水测试方法通则;
    ———GB/T11446.4 电子级水电阻率的测试方法;
    ———GB/T11446.5 电子级水中痕量金属的原子吸收分光光度测试方法;
    ———GB/T11446.6 电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法;
    ———GB/T11446.7 电子级水中痕量阴离子的离子色谱测试方法;
    ———GB/T11446.8 电子级水中总有机碳的测试方法;
    ———GB/T11446.9 电子级水中微粒的仪器测试方法;
    ———GB/T11446.10 电子级水中细菌总数的滤膜培养测试方法。
    本部分为GB/T11446的第7部分。
    本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
    本部分代替GB/T11446.7—1997《电子级水中痕量氯离子、硝酸根离子、磷酸根离子、硫酸根离子的离子色谱测试方法》。
    本部分与GB/T11446.7—1997相比,主要有下列变化:
    ———增加了痕量“氟离子”、“亚硝酸根离子”和“溴离子”的测定方法;
    ———将离子色谱工作原理反应式归纳到附录A 中;
    ———增加“干扰因素”(见第5章);
    ———删除“注意事项”(见1997年版的第10章)。
    本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
    本部分由中国电子技术标准化研究院归口。
    本部分起草单位:信息产业部专用材料质量监督检验中心、中国科学院半导体研究所、中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第四十六研究所。
    本部分主要起草人:王奕、褚连青、何秀坤、段曙光、提刘旺、刘筠。
    本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
    ———GB/T11446.7—1989、GB/T11446.7—1997。
  • 适用范围:
    GB/T 11446的本部分规定了电子级水中痕量氟离子(F-)、氯离子(Cl-)、亚硝酸根离子(NO-2)、溴离子(Br-)、硝酸根离子(NO-3)、磷酸根离子(PO3-4)、硫酸根离子(SO2-4)的离子色谱测试方法。
    本部分适用于电子级水中痕量氟离子、氯离子、亚硝酸根离子、溴离子、硝酸根离子、磷酸根离子、硫酸根离子的测定,其中检出限依次为0.7 μg/L、0.8μg/ L、1 μg/L、1 μg/L、1 μg/L、1 μg/L 和 1 μg/L。
  • 引用标准:
    下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
    GB/T11446.1—2013 电子级水
    GB/T11446.3—2013 电子级水测试方法通则
相关标准
  • 代替标准:
    GB/T 11446.7-1997
  • 引用标准:
    GB/T 11446.1-2013 GB/T 11446.3-2013
相关部门
  • 归口单位:
    中国电子技术标准化研究院
  • 主管部门:
    中国电子技术标准化研究院
  • 起草单位:
    中国电子技术标准化研究院 中国电子科技集团公司第四十六研究所 中国科学院半导体研究所 信息产业部专用材料质量监督检验中心
相关人员
暂无
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