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GB/T 11446.6-2013 电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法
Test method for SiO2 in electronic grade water by spectrophotometer
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
电子技术专用材料（31.030）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
电子设备与专用材料、零件、结构件（L90/94）
电子技术专用材料（L90）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
-
前言：
GB/T11446预计结构如下:
———GB/T11446.1 电子级水;
———GB/T11446.2 (待定);
———GB/T11446.3 电子级水测试方法通则;
———GB/T11446.4 电子级水电阻率的测试方法;
———GB/T11446.5 电子级水中痕量金属的原子吸收分光光度测试方法;
———GB/T11446.6 电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法;
———GB/T11446.7 电子级水中痕量阴离子的离子色谱测试方法;
———GB/T11446.8 电子级水中总有机碳的测试方法;
———GB/T11446.9 电子级水中微粒的仪器测试方法;
———GB/T11446.10 电子级水中细菌总数的滤膜培养测试方法。
本部分为GB/T11446的第6部分。
本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本部分代替GB/T11446.6—1997《电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法》。
本部分与GB/T11446.6—1997相比,主要有下列变化:
———将“9干扰因素”修改为“5干扰因素”(见第5章);
———“工作曲线的绘制”中,根据待测水样中二氧化硅含量,明确将工作曲线分为两组(见9.1.1和9.1.2);
———增加了“对水样独立进行两次测定,取其平均值”(见9.3.3)。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由中国电子技术标准化研究所归口。
本部分起草单位:信息产业部专用材料质量监督检验中心、中国科学院半导体研究所、中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第四十六研究所。
本部分主要起草人:王奕、褚连青、何秀坤、段曙光、提刘旺、刘筠。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T11446.6—1989、GB/T11446.6—1997。
-
适用范围：
GB/T 11446的本部分规定了电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法。
本部分适用于电子级水中二氧化硅的测定，其中检出限为1 μg/L。
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引用标准：
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T11446.1—2013 电子级水
GB/T11446.3—2013 电子级水测试方法通则
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