收藏到云盘
纠错反馈

GB/T 11446.6-2013 电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法

Test method for SiO2 in electronic grade water by spectrophotometer
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 11446.6-2013
  • 名称:
    电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法
  • 英文名称:
    Test method for SiO2 in electronic grade water by spectrophotometer
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2013-12-31
  • 实施日期:
    2014-08-15
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
分类信息
描述信息
  • 前言:
    GB/T11446预计结构如下:
    ———GB/T11446.1 电子级水;
    ———GB/T11446.2 (待定);
    ———GB/T11446.3 电子级水测试方法通则;
    ———GB/T11446.4 电子级水电阻率的测试方法;
    ———GB/T11446.5 电子级水中痕量金属的原子吸收分光光度测试方法;
    ———GB/T11446.6 电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法;
    ———GB/T11446.7 电子级水中痕量阴离子的离子色谱测试方法;
    ———GB/T11446.8 电子级水中总有机碳的测试方法;
    ———GB/T11446.9 电子级水中微粒的仪器测试方法;
    ———GB/T11446.10 电子级水中细菌总数的滤膜培养测试方法。
    本部分为GB/T11446的第6部分。
    本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
    本部分代替GB/T11446.6—1997《电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法》。
    本部分与GB/T11446.6—1997相比,主要有下列变化:
    ———将“9干扰因素”修改为“5干扰因素”(见第5章);
    ———“工作曲线的绘制”中,根据待测水样中二氧化硅含量,明确将工作曲线分为两组(见9.1.1和9.1.2);
    ———增加了“对水样独立进行两次测定,取其平均值”(见9.3.3)。
    本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
    本部分由中国电子技术标准化研究所归口。
    本部分起草单位:信息产业部专用材料质量监督检验中心、中国科学院半导体研究所、中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第四十六研究所。
    本部分主要起草人:王奕、褚连青、何秀坤、段曙光、提刘旺、刘筠。
    本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
    ———GB/T11446.6—1989、GB/T11446.6—1997。
  • 适用范围:
    GB/T 11446的本部分规定了电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法。
    本部分适用于电子级水中二氧化硅的测定,其中检出限为1 μg/L。
  • 引用标准:
    下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
    GB/T11446.1—2013 电子级水
    GB/T11446.3—2013 电子级水测试方法通则
相关标准
  • 代替标准:
    GB/T 11446.6-1997
  • 引用标准:
    GB/T 11446.1-2013 GB/T 11446.3-2013
相关部门
  • 起草单位:
    中国电子技术标准化研究院 中国电子科技集团公司第四十六研究所 中国科学院半导体研究所 信息产业部专用材料质量监督检验中心
  • 归口单位:
    中国电子技术标准化研究所
  • 主管部门:
    中国电子技术标准化研究所
相关人员
暂无