收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 11446.4-2013 电子级水电阻率的测试方法
Test method for resistivity of electronic grade water
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
电子技术专用材料（31.030）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
电子设备与专用材料、零件、结构件（L90/94）
电子技术专用材料（L90）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
-
前言：
GB/T11446预计结构如下:
———GB/T11446.1 电子级水;
———GB/T11446.2 (待定);
———GB/T11446.3 电子级水测试方法通则;
———GB/T11446.4 电子级水电阻率的测试方法;
———GB/T11446.5 电子级水中痕量金属的原子吸收分光光度测试方法;
———GB/T11446.6 电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法;
———GB/T11446.7 电子级水中痕量阴离子的离子色谱测试方法;
———GB/T11446.8 电子级水中总有机碳的测试方法;
———GB/T11446.9 电子级水中微粒的仪器测试方法;
———GB/T11446.10 电子级水中细菌总数的滤膜培养测试方法。
本部分为GB/T11446的第4部分。
本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本部分代替GB/T11446.4—1997《电子级水电阻率的测试方法》。
本部分与GB/T11446.4—1997相比,主要有下列变化:
———“3术语和定义”中增加了“电导池常数”的定义(见第3章);
———增加了“5干扰因素”(见5章);
———删除了“9 注意事项”(1997年版的第9章)。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由中国电子技术标准化研究院归口。
本部分起草单位:信息产业部专用材料质量监督检验中心、中国科学院半导体研究所、中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第四十六研究所。
本部分主要起草人:褚连青、王奕、何秀坤、段曙光、提刘旺、刘筠。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T11446.4—1989、GB/T11446.4—1997。
-
适用范围：
GB/T 11446的本部分规定了电子级水的电阻率的测试方法。
本部分适用于电子级水电阻率测试。
-
引用标准：
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T11446.1—2013 电子级水
GB/T11446.3—2013 电子级水测试方法通则
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
SJ 668-1983
DW-221电真空玻璃主要技术数据
-
GB/T 4070-1996
荧光粉性能试验方法
-
T/CEMIA 019-2019
显示面板用稀释液
-
GB/T 15870-1995
硬面光掩模用铬薄膜
-
SJ/T 11110-2016
银电镀层规范
-
SJ/T 11246-2001
真空开关管用陶瓷管壳
-
GB/T 32645-2016
平板显示器基板玻璃边缘条件规范
-
JB/T 9494-1999
聚酯漆包圆电阻线
-
DB34/T 2829-2017
安徽省超厚电解铜箔技术条件
-
T/CEMIA 021-2019
厚膜集成电路用电阻浆料规范
-
SJ 685-1983
DZ-601～624电真空玻璃主要技术数据
-
SJ/T 3328.2-2016
电子产品用高纯石英砂 第2部分 分析方法通则
-
GB/T 14015-1992
硅-蓝宝石外延片
-
GB/T 9394-1998
电子工业用硅酸钾溶液
-
GB/T 5594.5-1985
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法
-
JB/T 9495.1-1999
光学晶体
-
GB/T 9505-1998
蒸散型钡吸气剂
-
SJ 676-1983
DB-401电真空玻璃主要技术数据
-
JB/T 8900-1999
银、银合金/铜、铜合金复合带材
-
SJ/T 3328.4-2016
电子产品用高纯石英砂 第4部分 二氧化硅的测定
打开设置，点击
执行注册
