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GB/T 30869-2014 太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法

Test method for thickness and total thickness variation of silicon wafers for solar cell
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 30869-2014
  • 名称:
    太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法
  • 英文名称:
    Test method for thickness and total thickness variation of silicon wafers for solar cell
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2014-07-24
  • 实施日期:
    2015-02-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
分类信息
描述信息
  • 前言:
    本标准按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。
    本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)及材料分技术委员会(SAC/TC203/SC2)共同提出并归口。
    本标准起草单位:东方电气集团峨嵋半导体材料有限公司、有研半导体材料股份有限公司、乐山新天源太阳能科技有限公司、青洋电子材料有限公司。
    本标准主要起草人:何紫军、冯地直、程宇、黎阳、陈琳、荆旭华、刘卓。
  • 适用范围:
    本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)厚度及总厚度变化的分立式和扫描式测量方法。
    本标准适用于符合GB/T 26071、GB/T 29055规定尺寸的硅片的厚度及总厚度变化的测量,分立式测量方法适用于接触式及非接触式测量,扫描式测量方法只适用于非接触式测量。在测量仪器准许的情况下,本标准也可用于其他规格硅片的厚度及总厚度变化的测量。
  • 引用标准:
    下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
    GB/T26071 太阳能电池用硅单晶切割片
    GB/T29055 太阳电池用多晶硅片
相关标准
  • 引用标准:
    GB/T 26071 GB/T 29055
相关部门
  • 归口单位:
    2) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203) 203/SC 材料分技术委员会(SAC/TC
  • 主管部门:
    国家标准化管理委员会
  • 起草单位:
    东方电气集团峨嵋半导体材料有限公司 有研半导体材料股份有限公司 乐山新天源太阳能科技有限公司 青洋电子材料有限公司
相关人员
暂无