收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 30869-2014 太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法
Test method for thickness and total thickness variation of silicon wafers for solar cell
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
冶金(77)
金属材料试验(77.040)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
金属理化性能试验方法(H20/29)
金属物理性能试验方法(H21)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
-
前言:
本标准按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)及材料分技术委员会(SAC/TC203/SC2)共同提出并归口。
本标准起草单位:东方电气集团峨嵋半导体材料有限公司、有研半导体材料股份有限公司、乐山新天源太阳能科技有限公司、青洋电子材料有限公司。
本标准主要起草人:何紫军、冯地直、程宇、黎阳、陈琳、荆旭华、刘卓。
-
适用范围:
本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)厚度及总厚度变化的分立式和扫描式测量方法。
本标准适用于符合GB/T 26071、GB/T 29055规定尺寸的硅片的厚度及总厚度变化的测量,分立式测量方法适用于接触式及非接触式测量,扫描式测量方法只适用于非接触式测量。在测量仪器准许的情况下,本标准也可用于其他规格硅片的厚度及总厚度变化的测量。
-
引用标准:
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T26071 太阳能电池用硅单晶切割片
GB/T29055 太阳电池用多晶硅片
相关标准
-
引用标准:
GB/T 26071
GB/T 29055
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 1553-1997
硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
-
GB/T 32278-2015
碳化硅单晶片平整度测试方法
-
GB/T 8362-1987
钢中残余奥氏体定量测定 X射线衍射仪法
-
GB/T 3849-1983
硬质合金洛氏硬度 (A标尺) 试验方法
-
GB/T 33908-2017
铝电解质初晶温度测定技术规范
-
YS/T 629.4-2007
高纯氧化铝化学分析方法 氧化钾含量的测定 火焰原子吸收光谱法
-
YS/T 976-2014
煅烧α型氧化铝中α-Al2O3含量的测定 X-射线衍射法
-
GB/T 5987-1986
热双金属温曲率试验方法
-
YS/T 273.10-2006
冰晶石化学分析方法和物理性能测定方法 第10部分:重量法测定游离氧化铝含量
-
GB/T 3657-1983
软磁合金直流磁性能测量方法
-
GB/T 38786-2020
镁及镁合金铸锭纯净度检验方法
-
YS/T 1161.1-2016
拟薄水铝石分析方法 第1部分:胶溶指数的测定 EDTA容量法
-
YS/T 602-2007
区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法
-
YS/T 438.3-2001
砂状氧化铝物理性能测定方法 安息角的测定
-
GB/T 3655-2008
用爱泼斯坦方圈测量电工钢片(带)磁性能的方法
-
GB/T 12967.2-1991
铝及铝合金阳极氧化 用轮式磨损试验仪测定阳极氧化膜的耐磨性和磨损系数
-
YS/T 581.2-2006
氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第2部分:烧减量的测定
-
GB/T 3249-1982
难熔金属及化合物粉末粒度的测定方法 费氏法
-
GB/T 37207-2018
镍钴锰酸锂电化学性能测试 放电平台容量比率及循环寿命测试方法
-
GB/T 41155-2021
烧结金属材料(不包括硬质合金) 疲劳试样