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GB/T 30869-2014 太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法
Test method for thickness and total thickness variation of silicon wafers for solar cell基本信息
- 标准号:GB/T 30869-2014
- 名称:太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法
- 英文名称:Test method for thickness and total thickness variation of silicon wafers for solar cell
- 状态:现行
- 类型:国家标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:2014-07-24
- 实施日期:2015-02-01
- 废止日期:暂无
- 相关公告:
分类信息
- ICS分类:【 】
- CCS分类:【 】
- 行标分类:暂无
描述信息
- 前言:本标准按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)及材料分技术委员会(SAC/TC203/SC2)共同提出并归口。
本标准起草单位:东方电气集团峨嵋半导体材料有限公司、有研半导体材料股份有限公司、乐山新天源太阳能科技有限公司、青洋电子材料有限公司。
本标准主要起草人:何紫军、冯地直、程宇、黎阳、陈琳、荆旭华、刘卓。 - 适用范围:本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)厚度及总厚度变化的分立式和扫描式测量方法。
本标准适用于符合GB/T 26071、GB/T 29055规定尺寸的硅片的厚度及总厚度变化的测量,分立式测量方法适用于接触式及非接触式测量,扫描式测量方法只适用于非接触式测量。在测量仪器准许的情况下,本标准也可用于其他规格硅片的厚度及总厚度变化的测量。 - 引用标准:下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T26071 太阳能电池用硅单晶切割片
GB/T29055 太阳电池用多晶硅片
相关标准
- 引用标准:GB/T 26071 GB/T 29055
相关部门
- 归口单位:2) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203) 203/SC 材料分技术委员会(SAC/TC
- 主管部门:国家标准化管理委员会
- 起草单位:东方电气集团峨嵋半导体材料有限公司 有研半导体材料股份有限公司 乐山新天源太阳能科技有限公司 青洋电子材料有限公司
相关人员
暂无
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