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GB/T 8750-2014 半导体封装用键合金丝
Gold bonding wire for semiconductor package基本信息
- 标准号:GB/T 8750-2014
- 名称:半导体封装用键合金丝
- 英文名称:Gold bonding wire for semiconductor package
- 状态:现行
- 类型:国家标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:2014-07-24
- 实施日期:2015-02-01
- 废止日期:暂无
- 相关公告:
分类信息
- ICS分类:【 】
- CCS分类:【 】
- 行标分类:暂无
描述信息
- 前言:本标准按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准代替 GB/T8750—2007《半导体器件键合用金丝》。
本标准与原标准相比,主要有如下变化:
———标准名称更改为“半导体封装用键合金丝”,英文“Goldbondingwireforsemiconductorpackage”;
———范围修改为“本标准规定了半导体分立器件、集成电路、LED封装用键合金丝(以下简称金丝)的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存、质量证明书、合同(或订货单)等内容。
本标准适用于半导体封装用键合金丝。”;
———产品分类中,根据不同封装弧高范围进行了用途说明;
———删除 D-Y 型金丝,增加两种型号金丝 AG2和 AG3;
———直径规格增加了0.014mm、0.016mm、0.017mm、0.019mm、0.021mm、0.022mm、0.024mm、0.026mm、0.027mm、0.028mm、0.029mm、0.033mm、0.043mm、0.044mm 和0.045mm 等规格;
———增加了产品标记示例;
———删除了尺寸允许偏差中200mm 的重量允许范围,增加1m 金丝重量允许范围列表,并增加了重量计算规定;
———金丝力学性能增加了同一直径下不同型号半硬态金丝最小拉断力和伸长率范围,删除了硬态和软体的最小拉断力参数;
———增加取样规定,对具体性能取样要求细化;
———增加附录 A,金丝弧高测试方法;
———增加附录 B,金丝表面典型缺陷;
———附录 E中金丝卷曲试验检验方法增加了卷曲试验检验方法2。
本标准由全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243)归口。
本标准起草单位:北京达博有色金属焊料有限责任公司、有色金属技术经济研究院、浙江佳博科技股份有限公司、山东科大鼎新电子科技有限公司。
本标准主要起草人:陈彪、杜连民、向磊、张蕴、薛子夜、苗海川、陈志、张立平、闫茹、向翠华、杨志新、赵月国、周晓光。
本标准的历次版本发布情况为:
———GB/T8750—2007、GB/T8750—1997、GB/T8750—1988。 - 适用范围:本标准规定了半导体分立器件、集成电路、LED封装用键合金丝(以下简称金丝)的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存、质量证明书、合同(或订货单)等内容。
本标准适用于半导体封装用键合金丝。 - 引用标准:下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T10573 有色金属细丝拉伸试验方法
GB/T11066.5 金化学分析方法 银、铜、铁、铅、锑和铋量的测定 原子发射光谱法
GB/T15077 贵金属及其合金材料几何尺寸测量方法
相关标准
- 代替标准:GB/T 8750-2007
- 引用标准:GB/T 10573 GB/T 11066.5 GB/T 15077
相关部门
- 起草单位:有色金属技术经济研究院 北京达博有色金属焊料有限责任公司 山东科大鼎新电子科技有限公司 浙江佳博科技股份有限公司
- 主管部门:中国有色金属工业协会
- 归口单位:全国有色金属标准化技术委员会
相关人员
暂无
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