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GB/T 18735-2014 微束分析 分析电镜(AEM/EDS)纳米薄标样通用规范
Microbeam analysis—General guide for the specification of nanometer thin reference materials for analytical transmission electron microscope (AEM/EDS)基本信息
- 标准号:GB/T 18735-2014
- 名称:微束分析 分析电镜(AEM/EDS)纳米薄标样通用规范
- 英文名称:Microbeam analysis—General guide for the specification of nanometer thin reference materials for analytical transmission electron microscope (AEM/EDS)
- 状态:现行
- 类型:国家标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:2014-07-24
- 实施日期:2015-03-01
- 废止日期:暂无
- 相关公告:
分类信息
- ICS分类:【 】
- CCS分类:【 】
- 行标分类:暂无
描述信息
- 前言:暂无
- 适用范围:本标准规定了分析电镜(AEM/EDS)即透射电子显微镜或装有扫描附件的透射电镜配备X射线能谱仪(EDS),测量比例因子KA-B所用纳米薄标样的技术要求、检测条件和检测方法。
本标准适用于采用分析电镜(AEM/EDS)进行无机薄样品的微区元素定量分析。本标准不包括有机物和生物标样。 - 引用标准:下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T4930—2008 微束分析 电子探针分析 标准样品技术条件导则(ISO14595:2003,IDT)
GB/T21636—2008 微束分析 电子探针显微分析(EPMA) 术语(ISO23833:2006,IDT)
相关标准
- 代替标准:GB/T 18735-2002
- 引用标准:GB/T 4930-2008 GB/T 21636-2008
相关部门
- 起草单位:武汉理工大学
- 主管部门:国家标准化管理委员会
- 归口单位:全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
相关人员
暂无
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