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SJ/T 11471-2014 发光二极管外延片测试方法

基本信息
  • 标准号:
    SJ/T 11471-2014
  • 名称:
    发光二极管外延片测试方法
  • 英文名称:
    暂无
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    行业标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2014-10-14
  • 实施日期:
    2015-04-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【2014年第12号(总第180号)】
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分类信息
  • ICS分类:
    暂无
  • CCS分类:
    冶金(H) 半金属与半导体材料(H80/84) 化合物半导体材料(H83)
  • 行标分类:
    电子(SJ)
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    本标准规定了可见光发光二极管外延片的几何参数、表面缺陷、结构参数及光电参数的测试方法。
    本标准适用于镓砷磷系、镓铝砷系、铝镓铟磷系及铝镓铟氮系外延片。
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
  • 起草单位:
    山东华光光电子有限公司 上海蓝光科技有限公司
相关人员
暂无
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