收藏到云盘
纠错反馈
SJ/T 11469-2014 压电陶瓷材料性能测试方法 切变压电应变常数d15的准静态测试
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
暂无
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
电子设备与专用材料、零件、结构件(L90/94)
电子技术专用材料(L90)
】
-
行标分类:
描述信息
相关标准
相关部门
-
起草单位:
中国科学院声学研究所
中国科学院声学研究所
相关人员
关联标准
-
SJ/T 10067-1991
BT40型可调单结晶体管详细规范
-
SJ/T 10300-1991
电容测量仪测试方法
-
SJ/T 211.3-1996
电子工业专用设备设计文件 第3部分:设计文件的格式
-
SJ/T 11666.1-2016
制造执行系统(MES)规范 第1部分:模型和术语
-
SJ/T 10110-1991
QH1350型可程控扫频信号发生器
-
SJ/T 11444-2012
电子信息行业危险源辨识、风险评价和风险控制要求
-
SJ/T 10082-1991
半导体集成电路CT54195/CT74195型4位移位寄存器(半行存取,J--K输入)
-
SJ/T 11458-2013
液晶显示背光组件用LED性能规范
-
SJ/T 11563-2015
网络化可信软件生产过程与环境
-
SJ/T 10709-1996
压电陶瓷蜂鸣片总规范
-
SJ/T 11119-1997
12.65mm(0.5in) L 型螺旋扫描盒式磁带录像系统
-
SJ/T 10395-1993
F80型射频立连接器
-
SJ/T 10486-1994
同轴射频电缆组件总规范
-
SJ/T 10450-1993
14mm精密硬同轴线及其无极性精密同轴连接器
-
SJ/T 11488-2015
半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法
-
SJ/T 11454-2013
软磁铁氧体环形磁心涂层尺寸及涂覆后的产品尺寸与公差
-
GB/T 36655-2018
电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法
-
GB 11312-1989
压电陶瓷材料和压电晶体声表面波性能测试方法
-
SJ/T 11674.2-2017
信息技术服务 集成实施 第2部分:项目实施规范
-
SJ 680-1983
DB-413电真空玻璃主要技术数据