收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 30860-2014 太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法
Test methods for surface roughness and saw mark of silicon wafers for solar cells
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
冶金（77）
金属材料试验（77.040）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
金属理化性能试验方法（H20/29）
金属物理性能试验方法（H21）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
-
前言：
本标准按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)及材料分技术委员会(SAC/TC203/SC2)共同提出并归口。
本标准起草单位:中国有色金属工业标准计量质量研究所、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司、江苏协鑫硅材料科技发展有限公司、有研半导体材料股份有限公司、特变电工新疆新能源股份有限公司、洛阳鸿泰半导体有限公司、连云港国家硅材料深加工产品质量监督检验中心。
本标准主要起草人:徐自亮、任皓、陈佳洵、李锐、孙燕、熊金杰、杨素心、蒋建国、王丽华、薛抗美、黄黎。
-
适用范围：
本标准规定了太阳能电池用硅片（以下简称硅片）的表面粗糙度及切割线痕的接触式或非接触式轮廓测试方法。
本标准适用于通过线切工艺加工生产的单晶和多晶硅片。如果需要适用于其他产品，则需相关各方协商同意。
-
引用标准：
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T1031 产品几何技术规范(GPS) 表面结构 轮廓法 表面粗糙度参数及其数值
GB/T3505 产品几何技术规范(GPS) 表面结构 轮廓法 术语、定义及表面结构参数
GB/T10610 产品几何技术规范(GPS) 表面结构 轮廓法 评定表面结构的规则和方法
GB/T14264 半导体材料术语
GB/T18777 产品几何技术规范(GPS) 表面结构 轮廓法 相位修正滤波器的计量特性
GB/T26071 太阳能电池用硅单晶切割片
GB/Z26958(所有部分) 产品几何技术规范(GPS)滤波
GB/T29055 太阳电池用多晶硅片
GB/T29505 硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法
GB/T30859 太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 5162-2006
金属粉末 振实密度的测定
-
SN/T 2081-2008
氧化铝中杂质元素含量的测定 微波溶样ICP-AES法
-
YS/T 581.11-2006
氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第11部分：试样的制备和贮存
-
YS/T 1258-2018
有色金属材料 熔融和结晶温度试验 热分析方法
-
GB/T 5252-1985
锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
-
SJ/T 11628-2016
太阳能电池用硅片尺寸及电学表征在线测试方法
-
GB/T 20831-2007
电工钢片（带）层间绝缘涂层温度特性测试方法
-
GB/T 15250-1994
压电铌酸锂单晶体声波衰减测试方法
-
DB53/T 748-2016
云南省工业硅粉粒度的测定 自动振筛法
-
SN/T 2047-2008
进口铜精矿中杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
-
GB/T 14146-1993
硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法
-
YS/T 466-2003
铜板带箔材耐热性能试验方法 硬度法
-
YS/T 27-1992
晶片表面微粒沾污测量和计数的方法
-
GB/T 2522-1988
电工钢片(带)层间电阻、涂层附着性、叠装系数测试方法
-
YS/T 533-2006
自熔合金粉末固-液相线温度区间的测定方法
-
SJ/T 11627-2016
太阳能电池用硅片电阻率在线测试方法
-
GB/T 18036-2000
铂铑热电偶细丝的热电动势测量方法
-
JB/T 10062-1999
超声探伤用探头 性能测试方法
-
GB/T 2596-1981
钨粉、碳化钨粉比表面积 (平均粒度) 测定(简化氮吸附法)
-
GB/T 8753.2-2005
铝及铝合金阳极氧化 氧化膜封孔质量的评定方法 第2部分:硝酸预浸的磷铬酸法
打开设置，点击
执行注册
