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GB/T 30859-2014 太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法

Test method for warp and waviness of silicon wafers for solar cells
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 30859-2014
  • 名称:
    太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法
  • 英文名称:
    Test method for warp and waviness of silicon wafers for solar cells
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2014-07-24
  • 实施日期:
    2015-04-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【关于批准发布《电气绝缘用漆 第6部分:环保型水性浸渍漆》等123项国家标准的公告】
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分类信息
  • ICS分类:
    冶金(77) 金属材料试验(77.040)
  • CCS分类:
    冶金(H) 金属理化性能试验方法(H20/29) 金属物理性能试验方法(H21)
  • 行标分类:
    暂无
描述信息
  • 前言:
    本标准按照 GB/T1.1—2009 给出的规则起草。
    本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)及材料分技术委员会(SAC/TC203/SC2)共同提出并归口。
    本标准起草单位:江苏协鑫硅材料科技发展有限公司、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司、有研半导体材料股份有限公司。
    本标准主要起草人:薛抗美、夏根平、孙燕、林清香、徐自亮、黄黎。
  • 适用范围:
    本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)翘曲度和波纹度的测试方法。
    本标准适用于硅片翘曲度和波纹度的测试。
  • 引用标准:
    下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
    GB/T3505—2009 产品几何技术规范(GPS)表面结构 轮廓法 术语、定义及表面结构参数
    GB/T6620 硅片翘曲度非接触式测试方法
    GB/T14264 半导体材料术语
    GB/T16747—2009 产品几何技术规范(GPS)表面结构 轮廓法 表面波纹度词汇
    GB/T18777 产品几何技术规范(GPS)表面结构 轮廓法 相位修正滤波器的计量特性
    GB/Z26958(所有部分) 产品几何技术规范(GPS)滤波
相关标准
  • 引用标准:
    GB/T 3505-2009 GB/T 6620 GB/T 14264 GB/T 16747-2009 GB/T 18777 GB/Z 26958(所有部分)
相关部门
  • 归口单位:
    2) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203) 203/SC 材料分技术委员会(SAC/TC
  • 主管部门:
    国家标准化管理委员会
  • 起草单位:
    江苏协鑫硅材料科技发展有限公司 瑟米莱伯贸易(上海)有限公司 有研半导体材料股份有限公司
相关人员
暂无
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