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GB/T 30854-2014 LED发光用氮化镓基外延片

Gallium nitride based epitaxial layer for LED lighting
基本信息
分类信息
描述信息
  • 前言：
    本标准按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。
    本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)及材料分技术委员会(SAC/TC203/SC2)共同提出并归口。
    本标准起草单位:中国科学院半导体研究所。
    本标准主要起草人:魏学成、赵丽霞、王军喜、曾一平、李晋闽、提刘旺。
  • 适用范围：
    本标准规定了LED发光用氮化镓基外延片（以下简称外延片）的要求、检验方法和规则以及标志、包装、运输、储存、质量证明书与订货单（或合同）内容。
    本标准适用于LED发光用氮化镓基外延片。
  • 引用标准：
    下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
    GB/T191 包装储运图示标志
    GB/T2828.1 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
    GB/T4326 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
    GB/T6618 硅片厚度和总厚度变化测试方法
    GB/T6619 硅片弯曲度测试方法
    GB/T6620 硅片翘曲度非接触式测试方法
    GB/T13387 硅及其他电子材料晶片参考面长度测量方法
    GB/T14140 硅片直径测量方法
    GB/T14142 硅外延层晶体完整性检验方法 腐蚀法
    GB/T14264 半导体材料术语
    GB/T14844 半导体材料牌号表示方法
    SJ/T11399 半导体二极管芯片测试方法
相关标准
  • 引用标准：
    GB/T 191 GB/T 2828.1 GB/T 4326 GB/T 6618 GB/T 6619 GB/T 6620 GB/T 13387 GB/T 14140 GB/T 14142 GB/T 14264 GB/T 14844 SJ/T 11399
相关部门
  • 归口单位：
    2) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203) 203/SC 材料分技术委员会(SAC/TC
  • 主管部门：
    国家标准化管理委员会
  • 起草单位：
    中国科学院半导体研究所
相关人员
暂无
关联标准