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GB/T 18858.3-2012/XG1-2014 《低压开关设备和控制设备控制器-设备接口（CDI）第3部分：DeviceNet》国家标准第1号修改单
Low-voltage switchgear and controlgear - Controller-device interface(CDIs) - Part 3: DeviceNet
基本信息
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标准号：
GB/T 18858.3-2012/XG1-2014
-
名称：
《低压开关设备和控制设备控制器-设备接口（CDI）第3部分：DeviceNet》国家标准第1号修改单
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英文名称：
Low-voltage switchgear and controlgear - Controller-device interface(CDIs) - Part 3: DeviceNet
-
状态：
现行
-
类型：
暂无
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性质：
推荐性
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发布日期：
2012-11-05
-
实施日期：
2015-07-01
-
废止日期：
暂无
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相关公告：
暂无
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分类信息
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ICS分类：
【
电气工程（29）
开关装置和控制器（29.130）
开关装置和控制器综合（29.130.01）
】
-
CCS分类：
【
电工（K）
低压电器（K30/39）
低压电器综合（K30）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
-
前言：
GB/T18858《低压开关设备和控制设备 控制器-设备接口(CDI)》分为3个部分:
———第1部分:总则;
———第2部分:执行器传感器接口(AS-i);
———第3部分:DeviceNet。
本部分为GB/T18858的第3部分。
本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本部分代替GB/T18858.3—2002《低压开关设备和控制设备 控制器-设备接口(CDI) 第3部分:DeviceNet》。
本部分与GB/T18858.3—2002相比,主要存在以下技术性差异:
———5.2基础报文协议中增加了新的服务;
———通过在5.3中引用最新版IEC61158(2007)的相关规定替代前一版本附录中给出的详细的应用层要求;
———5.6新增了相应的安全协议的要求(通过引用IEC61784-3);
———8.2及8.4中对电缆和连接器的连接规范的表现形式进行了更改,并增加了一个新的类型;
———8.10及9.3中新增加了对电磁兼容试验及逻辑试验的安全试验的引用。
本部分等同采用IEC62026-3:2008《低压开关设备和控制设备 控制器-设备接口 第3部分:
DeviceNet》。
本部分由中国电器工业协会提出。
本部分由全国低压电器标准化技术委员会(SAC/TC189)归口。
本部分负责起草单位:上海电器科学研究院、上海电科电器科技有限公司。
本部分参加起草单位:常熟开关制造有限公司、浙江天正电气股份有限公司、杭州科丰电子有限公司、上海电器股份有限公司人民电器厂、法泰电器(江苏)股份有限公司、上海电器设备检测所、中国质量认证中心、上海人民企业集团温州电器有限公司。
本部分主要起草人:阮于东、季慧玉、章建兵。
本部分参加起草人:邵建国、李芃、周志科、李海兵、丁高峰、郑静、张颖、贾颖巍、金灵满。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T18858.3—2002。
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适用范围：
GB/T18858的本部分规定了单个或多个控制器与控制回路设备或开关元件间的一种接口系统的技术要求。
本部分适用于接口系统使用在同一根电缆内的二对双绞屏蔽线———一对导线提供差动通信介质,另一对导线提供设备电源。这部分的目的在于制定一个使具有该接口的器件能够互操作的技术要求。
本部分规定了DeviceNet的下列特定要求:
———控制器和开关元件间的接口要求;
———设备的正常工作条件;
———结构和性能要求。
———验证一致性要求的试验。
这些特定要求是附加在GB/T18858.1之上的。
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引用标准：
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB4208—2008 外壳防护等级(IP代码)(IEC60529:2001,IDT)
GB4824—2004 工业、科学和医疗(ISM)射频设备 电磁骚扰特性 限值和测量方法(CISPR11:2003,IDT)
GB/T14048.10—2008 低压开关设备和控制设备 第5-2部分:控制电路电器和开关元件 接近开关(IEC60947-5-2:2004,IDT)
GB/T17626.2—2006 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验(IEC61000-4-2:2001,IDT)
GB/T17626.3—2006 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验(IEC61000-4-3:2002,IDT)
GB/T17626.4—2008 电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验(IEC61000-4-4:2004,IDT)
GB/T17626.5—2008 电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验(IEC61000-4-5:2005,IDT)
GB/T17626.6—2008 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度(IEC61000-4-5:2006,IDT)
GB/T18858.1—2012 低压开关设备和控制设备 控制器-设备接口(CDI) 第1部分:总则(IEC62026-1:2007,IDT)
GB/T19659(所有部分) 工业自动化系统与集成 开放系统应用集成框架(IEC61158(所有部分))
GB/T20438(所有部分) 电气/电子/可编程电子安全相关系统的功能安全
相关标准
相关部门
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提出部门：
中国电器工业协会
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起草单位：
上海电器科学研究院
上海电科电器科技有限公司
常熟开关制造有限公司
浙江天正电气股份有限公司等
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归口单位：
全国低压电器标准化技术委员会(SAC/TC
189)
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主管部门：
全国低压电器标准化技术委员会(SAC/TC
189)
相关人员
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