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GB/T 31358-2015 半导体激光器总规范

General specification for semiconductor lasers
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 31358-2015
  • 名称:
    半导体激光器总规范
  • 英文名称:
    General specification for semiconductor lasers
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2015-02-04
  • 实施日期:
    2015-08-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
分类信息
描述信息
  • 前言:
    本标准按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。
    本标准由中国机械工业联合会提出。
    本标准由全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会(SAC/TC284)归口。
    本标准起草单位:西安炬光科技有限公司、中国科学院西安光学精密机械研究所、中国科学院半导体研究所、北京国科世纪激光技术有限公司、武汉华工正源光子技术有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所。
    本标准主要起草人:刘兴胜、赵卫、许国栋、张艳春、杨军红、马晓宇、王警卫、王贞福、谢彦虎、吴迪、李小宁、史俊红、唐琦、王家赞、张国新、仲莉、石朝辉、张恩、许海明、陈海蓉、王晓燕。
  • 适用范围:
    本标准规定了半导体激光器的通用要求,包括术语和定义、分类、技术要求、测试要求、检验规则、标志、包装、运输和贮存。
    本标准适用于半导体激光器的研制、生产和交付等。半导体激光器组件可参考执行。
  • 引用标准:
    下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
    GB/T191 包装储运图示标志
    GB/T2423.1 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验 A:低温
    GB/T2423.2 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验 B:高温
    GB/T2423.3 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验 Cab:恒定湿热试验
    GB/T2423.5 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验 Ea和导则:冲击
    GB/T2423.10 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验 Fc:振动(正弦)
    GB/T2828.1 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量(AQL)检索的逐批检验抽样计划
    GB/T2829 周期检验计数抽样程序及表(适用于对过程稳定性的检验)
    GB2894 安全标志及其使用导则
    GB/T6388 运输包装收发货标志
    GB7247.1 激光产品的安全 第1部分:设备分类、要求
    GB/T7247.13 激光产品的安全 第13部分:激光产品的分类测量
    GB/T10320 激光设备和设施的电气安全
    GB/T12339 防护用内包装材料
    GB/T15313 激光术语
    GB/T31359 半导体激光器测试方法
相关标准
  • 引用标准:
    GB/T 191 GB/T 2423.1 GB/T 2423.2 GB/T 2423.3 GB/T 2423.5 GB/T 2423.10 GB/T 2828.1 GB/T 2829 GB 2894 GB/T 6388 GB 7247.1 GB/T 7247.13 GB/T 10320 GB/T 12339 GB/T 15313 GB/T 31359
相关部门
  • 提出部门:
    中国机械工业联合会
  • 起草单位:
    中国电子科技集团公司第十三研究所 中国科学院半导体研究所 北京国科世纪激光技术有限公司 中国科学院西安光学精密机械研究所 武汉华工正源光子技术有限公司 西安炬光科技有限公司
  • 归口单位:
    全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会(SAC/TC 284)
相关人员
暂无