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GB/T 31358-2015 半导体激光器总规范
General specification for semiconductor lasers
基本信息
分类信息
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ICS分类：
【
电子学（31）
光电子学、激光设备（31.260）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
光电子器件（L50/54）
激光器件（L51）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
-
前言：
本标准按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准由中国机械工业联合会提出。
本标准由全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会(SAC/TC284)归口。
本标准起草单位:西安炬光科技有限公司、中国科学院西安光学精密机械研究所、中国科学院半导体研究所、北京国科世纪激光技术有限公司、武汉华工正源光子技术有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所。
本标准主要起草人:刘兴胜、赵卫、许国栋、张艳春、杨军红、马晓宇、王警卫、王贞福、谢彦虎、吴迪、李小宁、史俊红、唐琦、王家赞、张国新、仲莉、石朝辉、张恩、许海明、陈海蓉、王晓燕。
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适用范围：
本标准规定了半导体激光器的通用要求，包括术语和定义、分类、技术要求、测试要求、检验规则、标志、包装、运输和贮存。
本标准适用于半导体激光器的研制、生产和交付等。半导体激光器组件可参考执行。
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引用标准：
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T191 包装储运图示标志
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GB/T2423.2 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验 B:高温
GB/T2423.3 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验 Cab:恒定湿热试验
GB/T2423.5 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验 Ea和导则:冲击
GB/T2423.10 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验 Fc:振动(正弦)
GB/T2828.1 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量(AQL)检索的逐批检验抽样计划
GB/T2829 周期检验计数抽样程序及表(适用于对过程稳定性的检验)
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