收藏到云盘
纠错反馈

SJ/T 11503-2015 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法

基本信息
  • 标准号:
    SJ/T 11503-2015
  • 名称:
    碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法
  • 英文名称:
    暂无
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    行业标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2015-04-30
  • 实施日期:
    2015-10-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【2015年第7号(总第187号)】
    • 阅读或下载 使用APP、PC客户端等功能更强大
    • 网页在线阅读 体验阅读、搜索等基本功能
    • 用户分享资源 来自网友们上传分享的文件
    • 纸书购买 平台官方及网友推荐
分类信息
  • ICS分类:
    电气工程(29) 半导体材料(29.045)
  • CCS分类:
    冶金(H) 半金属与半导体材料(H80/84) 化合物半导体材料(H83)
  • 行标分类:
    电子(SJ)
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    本标准规定了用表面轮廓仪和原子力显微镜测定碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的方法。
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
  • 起草单位:
    中国电子科技集团公司第四十六研究所 工业和信息化部电子工业标准化研究院 北京天科合达蓝光半导体有限公司
相关人员
暂无
关联标准
  • SJ/T 11392-2009 无铅焊料 化学成份与形态
  • SJ/T 11507-2015 集成电路用 氧化层缓冲腐蚀液
  • SJ/T 11282-2003 印刷板用“E”玻璃纤维纸规范
  • SJ/T 10321-1992 压电陶瓷点火器性能测试方法
  • SJ/T 11723-2018 锂离子电池用电解液
  • SJ/T 11725-2018 印制电路用导热型覆铜箔环氧复合基层压板
  • SJ/T 11290-2003 面向对象的软件系统建模规范 第1部分:概念与表示法
  • YS/T 988-2014 羧乙基锗倍半氧化物
  • SJ/T 11118-1997 8GHz数字微波通信设备通用技术条件
  • SJ/T 10502-1994 CD5型矩形插头座
  • SJ/T 10524-1994 VHS型录像磁带盒通用技术条件
  • SJ/T 11221-2000 集成电路卡通用规范 第2部分:行业间交换用命令、行业间数据元及注册号规定
  • SJ/T 10529-1994 电子收款机通用技术条件
  • SJ/T 10725-2013 电声学 测量电容传声器电声性能的测量方法
  • SJ/T 31027-2016 数控铣床、数控加工中心完好要求和检查评定方法
  • SJ/T 10066-1991 BT37型PN硅单结晶体管详细规范
  • SJ/T 11563-2015 网络化可信软件生产过程与环境
  • SJ/T 11627-2016 太阳能电池用硅片电阻率在线测试方法
  • SJ/T 11277-2002 防静电周转容器通用规范
  • SJ/T 10519.22-1994 塑料注射模零件 定位圈
用户分享资源

SJ/T 11503-2015 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法

上传文件
注:本列表内文件主要来源于网友们的分享上传。如您发现有不正确不合适的内容,请及时联系客服
纠错反馈
SJ/T 11503-2015 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法
提交反馈
分类列表
确定
上传文件
完全匿名 前台匿名 显示用户名 点击选择文件
{{uploadFile.name}} {{uploadFile.sizeStr}}
目前支持上传小于100MB的PDF、OCF、OCS格式文件
注:您上传文件即代表同意平台可以公开给所有用户下载。平台会根据您的选择及实际情况,为您发放相应的直接或分成奖励。平台也可以根据实际情况需要,对您上传到服务器的文件进行调整隐藏删除等,而无需通知到您。
联系客服

纸书购买链接招商中,联系客服入驻

客服QQ: 2449276725 1455033258

1098903864 1969329120

客服电话:0379-80883238

电子邮箱:ocsyun@126.com