收藏到云盘
纠错反馈
SJ/T 11503-2015 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法
基本信息
-
标准号：
SJ/T 11503-2015
-
名称：
碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法
-
英文名称：
暂无
-
状态：
现行
-
类型：
行业标准
-
性质：
推荐性
-
发布日期：
2015-04-30
-
实施日期：
2015-10-01
-
废止日期：
暂无
-
相关公告：
实施公告【2015年第7号(总第187号)】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类：
【
电气工程（29）
半导体材料（29.045）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
半金属与半导体材料（H80/84）
化合物半导体材料（H83）
】
-
行标分类：
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
SJ/T 11178-1998
电视和声音信号的电缆分配系统设备与部件 电视解调器通用规范
-
GB/T 35316-2017
蓝宝石晶体缺陷图谱
-
SJ/T 31447-2016
乙炔管道完好要求和检查评定方法
-
SJ/T 10191-1991
713型天气雷达
-
SJ/T 11218-2000
家庭影院用组合扬声器系统通用规范
-
YS/T 1510-2021
高纯锗粉
-
SJ/T 11696.1-2017
电子产品实现过程 质量管理 第一部分：设计和开发
-
SJ/T 11595-2016
会议系统用流媒体实时总线技术要求
-
SJ/T 10048-1991
半导体集成电路CT54LS169/CT74LS169型4位二进制同步加/减计数器
-
SJ 11295-2004
信息技术 通用多八位编码字符集（基本多文种平面）汉字12点阵字型
-
GB/T 13387-2009
硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法
-
SJ/T 11392-2009
无铅焊料 化学成份与形态
-
SJ/T 10629.6-1995
计算机辅助设计设计文件管理制度设计文件的更改
-
YS/T 724-2009
硅粉
-
SJ/T 10302.4-1992
SYKY-75-12、SYKG-75-12型电缆分配系统用纵孔聚乙烯绝缘同轴电缆
-
SJ/T 11180.1-2016
音视和视听设备 数字音频部分 音频特性基本测量方法 第1部分：总则
-
SJ/T 1832-2016
半导体分立器件 3DK102型ＮＰＮ硅小功率开关晶体管详细规范
-
SJ/T 11565.1-2015
信息技术服务 咨询设计 第1部分：通用要求
-
SJ/T 10621-1995
方形密封镉镍可充电单位蓄电池
-
SJ/T 2215-2015
半导体光电耦合器测试方法
打开设置，点击
执行注册
