收藏到云盘
纠错反馈
SJ/T 11500-2015 碳化硅单晶晶向的测试方法
基本信息
-
标准号：
SJ/T 11500-2015
-
名称：
碳化硅单晶晶向的测试方法
-
英文名称：
暂无
-
状态：
现行
-
类型：
行业标准
-
性质：
推荐性
-
发布日期：
2015-04-30
-
实施日期：
2015-10-01
-
废止日期：
暂无
-
相关公告：
实施公告【2015年第7号(总第187号)】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类：
【
电气工程（29）
半导体材料（29.045）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
半金属与半导体材料（H80/84）
化合物半导体材料（H83）
】
-
行标分类：
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 6620-2009
硅片翘曲度非接触式测试方法
-
SJ/T 10201-1991
谷物水分电子测量仪通用技术条件
-
SJ/T 11417-2010
GPS接口控制文件
-
SJ/T 10248-1991
GD-24型光电管详细规范
-
SJ/T 11391-2009
电子产品焊接用锡合金粉
-
SJ/T 11272-2002
车载彩色显示器通用规范
-
SJ/T 11542-2015
立体投影机技术要求及测试方法
-
GB/T 32279-2015
硅片订货单格式输入规范
-
SJ/T 31448-2016
供水管道完好要求和检查评定方法
-
SJ/T 10149-1991
电子元器件图形库 半导体分立器件图形
-
SJ/T 10532-1994
工艺管理
-
SJ/T 10371.2-1993
电视波形监视器测试方法
-
SJ/T 2215-2015
半导体光电耦合器测试方法
-
SJ/T 10266-1991
半导体集成电路CF714型精密带运算放大器详细规范
-
GB/T 31092-2014
蓝宝石单晶晶锭
-
SJ/T 11362-2006
企业信息化技术规范制造执行系统（MES）规范
-
SJ/T 10551-1994
电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法
-
SJ/T 11718-2018
产品碳足迹 产品种类规则 液晶电视机
-
GB/T 11072-2009
锑化铟多晶、单晶及切割片
-
SJ/T 10628-1995
塑料制件尺寸公差
打开设置，点击
执行注册
