收藏到云盘
纠错反馈
SJ/T 11501-2015 碳化硅单晶晶型的测试方法
基本信息
- 标准号:SJ/T 11501-2015
- 名称:碳化硅单晶晶型的测试方法
- 英文名称:暂无
- 状态:现行
- 类型:行业标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:2015-04-30
- 实施日期:2015-10-01
- 废止日期:暂无
- 相关公告:
分类信息
- ICS分类:【 】
- CCS分类:【 】
- 行标分类:【 】
描述信息
- 前言:暂无
- 适用范围:本标准规定了利用拉曼光谱测定碳化硅单晶的结晶类型的方法。
- 引用标准:暂无
相关标准
暂无
相关部门
- 起草单位:中国电子科技集团公司第四十六研究所 工业和信息化部电子工业标准化研究院
相关人员
暂无
关联标准
- SJ/T 10497-1994 卡圆形插头座
- SJ/T 10286-1991 镉镍扁形密封碱性蓄电池总规范
- SJ/T 11492-2015 光致发光法测定磷镓砷晶片的组分
- SJ/T 10577-1994 断路器用真空开关管总规范
- SJ/T 11540-2015 有源扬专用器通用规范
- SJ/T 10380-2012 工业用酸洗石英砂
- SJ/T 3231-2005 低熔焊接玻璃粉
- GB/T 6620-2009 硅片翘曲度非接触式测试方法
- SJ/T 11158-1998 采用NICAM双通道数字声系统多声道电视接收机的基本技术参数要求与测量方法
- SJ/T 207.7-2001 设计文件管理制度 第7部分:电气简图的编制
- SJ/T 10317-1992 负荷开关用真空开关管空白详细规范
- SJ/T 11271-2002 数字域名规范
- SJ/T 11651-2016 离散制造业生产管理用射频识别读写设备管理接口规范
- SJ/T 10695-1996 专用工艺装备设计文件编制方法
- YS/T 988-2014 羧乙基锗倍半氧化物
- SJ/T 10086-1991 半导体集成电路CT54H183/CT74H183型双进位保留全加器
- SJ/T 10620-1995 压电滤波器型号命名方法
- SJ/T 10542-1994 抗干扰型交流稳压电源测试方法
- YS/T 543-2015 半导体键合用铝-1%硅细丝
- SJ/T 10688-1995 YYJT系列齿轮减速电子调速单相异步电动机