收藏到云盘
纠错反馈
SJ/T 11498-2015 重掺硅衬底中氧浓度的二次离子质谱测量方法
基本信息
-
标准号：
SJ/T 11498-2015
-
名称：
重掺硅衬底中氧浓度的二次离子质谱测量方法
-
英文名称：
暂无
-
状态：
现行
-
类型：
行业标准
-
性质：
推荐性
-
发布日期：
2015-04-30
-
实施日期：
2015-10-01
-
废止日期：
暂无
-
相关公告：
实施公告【2015年第7号(总第187号)】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类：
【
电气工程（29）
半导体材料（29.045）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
半金属与半导体材料（H80/84）
元素半导体材料（H82）
】
-
行标分类：
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
SJ/T 11384-2008
耐压测试仪通用规范
-
SJ/T 11666.8-2016
制造执行系统（MES）规范 第8部分：服务质量度量
-
SJ/T 10344-1993
12.65mmUHS录像基准磁带
-
SJ/T 10603-1994
彩色监视器通用技术条件
-
SJ/T 11553-2015
93%氧化铝真空电子用陶瓷
-
SJ 11295-2004
信息技术 通用多八位编码字符集（基本多文种平面）汉字12点阵字型
-
SJ/T 10363-1993
应用电视术语
-
SJ/T 10100-1991
8409型无线寻呼系统
-
SJ/T 10142-1991
电介质材料微波复介电常数测试方法同轴线终端开路法
-
SJ/T 10682-1995
金属箔式 脂介质直流固定电容器 评定E
-
SJ/T 11573-2016
网络智能机顶盒技术要求和测试方法
-
GB/T 30866-2014
碳化硅单晶片直径测试方法
-
SJ/T 10033-1991
ZQMI--325/16型氢闸流管
-
SJ/T 10309-2016
印制板用阻焊剂
-
SJ/T 11141-2003
LED显示屏通用规范
-
SJ/T 10624-1995
X射线管寿命试验方法
-
SJ/T 10039-1991
半导体集成电路CMOS4000系列译码器
-
SJ/T 2318-2016
扬声器用铝镍钴系永磁体
-
SJ/T 10157-1991
脉冲磁控管空白详细规范(可供认证用)
-
SJ/T 11245-2001
单相Ｒ型铁心电源变压器
打开设置，点击
执行注册
