收藏到云盘
纠错反馈

SJ/T 11497-2015 砷化镓晶片热稳定性的试验方法

基本信息
  • 标准号:
    SJ/T 11497-2015
  • 名称:
    砷化镓晶片热稳定性的试验方法
  • 英文名称:
    暂无
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    行业标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2015-04-30
  • 实施日期:
    2015-10-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【2015年第7号(总第187号)】
    • 阅读或下载 使用APP、PC客户端等功能更强大
    • 网页在线阅读 体验阅读、搜索等基本功能
    • 用户分享资源 来自网友们上传分享的文件
    • 纸书购买 平台官方及网友推荐
分类信息
  • ICS分类:
    电气工程(29) 半导体材料(29.045)
  • CCS分类:
    冶金(H) 半金属与半导体材料(H80/84) 化合物半导体材料(H83)
  • 行标分类:
    电子(SJ)
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    本标准规定了半绝缘砷化镓(GaAs)热稳定性的试验方法。
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
  • 起草单位:
    工业和信息化部电子工业标准化研究院 信息产业专用材料质量监督检验中心 苏州晶瑞化学有限公司等
相关人员
暂无
关联标准
  • SJ/T 10114-1991 HS5633型数字声级计
  • SJ/T 10529-1994 电子收款机通用技术条件
  • SJ/T 11459.2.2.3-2013 液晶显示器件 第2-2-3部分:便携式计算机用彩色矩阵液晶显示模块详细规范
  • SJ/T 11482-2014 电子设备用压敏电阻器 MYP型片式压敏电阻器详细规范 评定水平E
  • SJ/T 10622-1995 方形开口镉镍可充电单位蓄电池
  • YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法
  • SJ/T 1155-1993 敏感元器件及传感器型号命名方法
  • SJ/T 2406-2018 微波电路型号命名方法
  • SJ/T 11551-2015 高密度互连印制电路用涂树脂铜箔
  • SJ/T 11626-2016 超级电容器用充电器通用规范
  • SJ/T 11260-2001 真空开关管系列
  • SJ/T 11346-2014 电子电气产品有害物质限制使用标识要求
  • SJ/T 11280-2002 电子元器件详细规范 MYS4、MYS5、MYS6、MYS8防雷指示型过电压保护器 评定水平E
  • SJ/T 11718-2018 产品碳足迹 产品种类规则 液晶电视机
  • SJ/T 10266-1991 半导体集成电路CF714型精密带运算放大器详细规范
  • SJ/T 11460.6.1-2015 液晶显示用背光组件 第6-1部分: 测试方法 光学与光电参数
  • SJ/T 10466.5-1993 营销质量指南
  • GB/T 11070-2006 还原锗锭
  • SJ/T 10716-1996 有金属化孔单双面印制板能力详细规范
  • SJ/T 11479-2014 IP文档结构指南
用户分享资源

SJ/T 11497-2015 砷化镓晶片热稳定性的试验方法

上传文件
注:本列表内文件主要来源于网友们的分享上传。如您发现有不正确不合适的内容,请及时联系客服
纠错反馈
SJ/T 11497-2015 砷化镓晶片热稳定性的试验方法
提交反馈
分类列表
确定
上传文件
完全匿名 前台匿名 显示用户名 点击选择文件
{{uploadFile.name}} {{uploadFile.sizeStr}}
目前支持上传小于100MB的PDF、OCF、OCS格式文件
注:您上传文件即代表同意平台可以公开给所有用户下载。平台会根据您的选择及实际情况,为您发放相应的直接或分成奖励。平台也可以根据实际情况需要,对您上传到服务器的文件进行调整隐藏删除等,而无需通知到您。
联系客服

纸书购买链接招商中,联系客服入驻

客服QQ: 2449276725 1455033258

1098903864 1969329120

客服电话:0379-80883238

电子邮箱:ocsyun@126.com