收藏到云盘
纠错反馈
SJ/T 11496-2015 红外吸收法测量砷化镓中硼含量
基本信息
-
标准号:
SJ/T 11496-2015
-
名称:
红外吸收法测量砷化镓中硼含量
-
英文名称:
暂无
-
状态:
现行
-
类型:
行业标准
-
性质:
推荐性
-
发布日期:
2015-04-30
-
实施日期:
2015-10-01
-
废止日期:
暂无
-
相关公告:
实施公告【2015年第7号(总第187号)】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类:
【
电气工程(29)
半导体材料(29.045)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
半金属与半导体材料(H80/84)
化合物半导体材料(H83)
】
-
行标分类:
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
SJ/T 10386-1993
电子工业专用设备可靠性验证试验方法
-
SJ/T 10476-1994
录像机用主导轴电动机总规范
-
SJ/T 11128-1997
微盒式磁带录音机运带机构总技术条件
-
SJ/T 10076-1991
半导体集成电路CJ710型电压比较器
-
SJ/T 10716-1996
有金属化孔单双面印制板能力详细规范
-
SJ/T 10299-1991
电容测量仪技术条件
-
SJ/T 11697-2018
无铅元器件焊接工艺适应性规范
-
SJ/T 10095-1991
电子产品用氢气电阻炉测试方法
-
SJ/T 10086-1991
半导体集成电路CT54H183/CT74H183型双进位保留全加器
-
SJ/T 10083-1991
半导体集成电路CT54161/CT74161型4位二进制同步计数器(异步清除)
-
SJ 11296-2004
信息技术 通用多八位编码字符集(基本多文种平面)汉字14点阵字型
-
SJ/T 11611-2016
电子元器件详细规范 线绕固定电阻器械 RXF-1型涂覆型线绕熔断器械 评定水平E
-
SJ/T 11458-2013
液晶显示背光组件用LED性能规范
-
SJ/T 10078-1991
半导体集成电路CT54107/CT74107型双主从J--K触发器(有清除端)
-
SJ/T 10460-1993
太阳光伏能源系统图用图形符号
-
SJ/T 31027-2016
数控铣床、数控加工中心完好要求和检查评定方法
-
SJ/T 11583-2016
电子陶瓷及其封接气密性测试方法
-
SJ/T 10041-1991
半导体集成电路CMOS4000系列移位寄存器
-
SJ/T 10588.8-1994
DB-427型电子玻璃技术数据
-
SJ/T 11573-2016
网络智能机顶盒技术要求和测试方法