收藏到云盘
纠错反馈
SJ/T 11492-2015 光致发光法测定磷镓砷晶片的组分
基本信息
-
标准号:
SJ/T 11492-2015
-
名称:
光致发光法测定磷镓砷晶片的组分
-
英文名称:
暂无
-
状态:
现行
-
类型:
行业标准
-
性质:
推荐性
-
发布日期:
2015-04-30
-
实施日期:
2015-10-01
-
废止日期:
暂无
-
相关公告:
实施公告【2015年第7号(总第187号)】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类:
【
电气工程(29)
半导体材料(29.045)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
半金属与半导体材料(H80/84)
化合物半导体材料(H83)
】
-
行标分类:
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
SJ/T 11455-2013
示波管和指示管的测试方法
-
SJ/T 11254-2001
射频同轴电缆组件 第2-3部分:柔软同轴电缆组件详细规范
-
GB/T 25074-2017e
太阳能级多晶硅
-
SJ/T 10093-1991
L1316II型真空去气热处理炉
-
SJ/T 10538-1994
冲压生产技术经济指标计算方法
-
SJ/T 1839-2016
半导体分立器件 3DK108型NPN硅小功率开关晶体管详细规范
-
SJ/T 10490-1994
KN4型钮子开关
-
GB/T 8756-2018
锗晶体缺陷图谱
-
SJ/T 11412-2010
防静电洁净工作服及织物通用规范
-
SJ/T 11521.3-2015
数字电视接收设备交互式平台 第3部分:系统测试规范
-
SJ/T 10540-2013
永磁铁氧体成品、半成品化学分析方法
-
YS/T 724-2009
硅粉
-
SJ/T 10135-2010
TEC1系列温差电致冷组件总规范
-
SJ/T 10669-1995
表面组装元件可焊性试验
-
GB/T 17169-1997
硅抛光片和外延片表面质量光反射测试方法
-
SJ/T 11222-2000
集成电路卡通用规范 第3部分:测试方法
-
SJ/T 10397-1993
N/F40型射频法立连接器
-
SJ/T 11459.2.2.2-2013
液晶显示器件 第2-2-2部分:显示器用彩色矩阵液晶显示模块详细规范
-
SJ/T 10171.6-1991
碱性蓄电池隔膜性能测试方法 隔膜耐碱损失的测定
-
SJ/T 11532.1-2015
危险化学品气瓶标识用电子标签通用技术要求 第1部分:气瓶电子标识代码