收藏到云盘
纠错反馈
SJ/T 11491-2015 短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
基本信息
-
标准号：
SJ/T 11491-2015
-
名称：
短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
-
英文名称：
暂无
-
状态：
现行
-
类型：
行业标准
-
性质：
推荐性
-
发布日期：
2015-04-30
-
实施日期：
2015-10-01
-
废止日期：
暂无
-
相关公告：
实施公告【2015年第7号(总第187号)】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类：
【
电气工程（29）
半导体材料（29.045）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
半金属与半导体材料（H80/84）
元素半导体材料（H82）
】
-
行标分类：
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
SJ/T 10629.1-1995
计算机辅助设计设计文件管理制度基本要求
-
SJ/T 10655-1995
短波单边带通信设备检验规则
-
SJ/T 11186-2009
焊锡膏通用规范
-
SJ 20858-2002
碳化硅单晶材料电学参数测试方法
-
SJ/T 11654-2016
固态盘通用规范
-
SJ/T 10118-1991
HXP-4键盘技术条件
-
SJ/T 11375-2007
软件构件 产品质量 第2部分：质量度量
-
YS/T 43-2011
高纯砷
-
SJ/T 11562-2015
软件协同开发平台技术规范
-
SJ/T 11340-2015
前投影机通用规范
-
SJ/T 10180-1991
金属橡胶型隔振器总规范
-
SJ/T 11161-1998
密封用粘结永磁铁氧体磁体空白详细规范 评定水平A
-
SJ/T 2936-2013
中功率计通用规范
-
SJ/T 11383-2008
泄漏电流测试仪通用规范
-
SJ/T 11526-2015
信息技术 SCSI基于对象的存储设备命令
-
SJ/T 11460.2-2014
液晶显示用背光组件 第2部分：CCFL背光组件空白详细规范
-
YS/T 557-2006
压电铌酸锂单晶体声波衰减测试方法
-
SJ/T 211.3-1996
电子工业专用设备设计文件 第3部分:设计文件的格式
-
SJ/T 11231-2001
集成电路卡通用规范 第5部分：带触点的IC卡模块
-
YS/T 724-2009
硅粉
打开设置，点击
执行注册
