收藏到云盘
纠错反馈
SJ/T 11490-2015 低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法
基本信息
-
标准号：
SJ/T 11490-2015
-
名称：
低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法
-
英文名称：
暂无
-
状态：
现行
-
类型：
行业标准
-
性质：
推荐性
-
发布日期：
2015-04-30
-
实施日期：
2015-10-01
-
废止日期：
暂无
-
相关公告：
实施公告【2015年第7号(总第187号)】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类：
【
电气工程（29）
半导体材料（29.045）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
半金属与半导体材料（H80/84）
化合物半导体材料（H83）
】
-
行标分类：
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
SJ/T 10372-1993
车用高保真系统最低性能要求
-
YS/T 988-2014
羧乙基锗倍半氧化物
-
SJ/T 11489-2015
低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法
-
SJ/T 1833-2016
半导体分立器件 3DK103型ＮＰＮ硅小功率开关晶体管详细规范
-
SJ/T 11082-2000
电子管热丝或灯丝电流和电压的测试方法
-
SJ/T 10163-1991
电子设备危险频率检测方法
-
SJ/T 10098-1991
彩色电视机可靠性分配和预计
-
SJ/T 11316-2005
家庭网络系统体系结构及参考模型
-
SJ/T 11677-2017
信息技术 交易中间件性能测试规范
-
SJ/T 10084-1991
半导体集成电路CT54H20/CT74H20型双4输入S非门
-
SJ/T 11254-2001
射频同轴电缆组件 第2-3部分：柔软同轴电缆组件详细规范
-
SJ/T 10352-1993
办公自动化系统开发设计指南
-
SJ/T 10588.11-1994
DB-486型电子玻璃技术数据
-
SJ/T 10171.2-1991
碱性蓄电池隔膜性能测试方法 隔膜定量的测定
-
SJ/T 11421-2010
GNSS测量型接收设备通用规范
-
SJ/T 2658.9-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第9部分：辐射强度空间分布和半强度角
-
DB65/T 3486-2013
新疆维吾尔自治区太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法
-
SJ/T 2964.1-2013
电子元器件质量评定体系规范 压电陶瓷鉴频器 第1部分：总规范 鉴定批准
-
GB/T 6620-2009
硅片翘曲度非接触式测试方法
-
SJ/T 11455-2013
示波管和指示管的测试方法
打开设置，点击
执行注册
