收藏到云盘
纠错反馈
SJ/T 11490-2015 低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法
基本信息
-
标准号:
SJ/T 11490-2015
-
名称:
低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法
-
英文名称:
暂无
-
状态:
现行
-
类型:
行业标准
-
性质:
推荐性
-
发布日期:
2015-04-30
-
实施日期:
2015-10-01
-
废止日期:
暂无
-
相关公告:
实施公告【2015年第7号(总第187号)】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类:
【
电气工程(29)
半导体材料(29.045)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
半金属与半导体材料(H80/84)
化合物半导体材料(H83)
】
-
行标分类:
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
SJ/T 10227-1991
电子工业用硅酸钾溶液粘度的测定方法
-
SJ/T 2217-2014
硅光电晶体管技术规范
-
SJ/T 10380-2012
工业用酸洗石英砂
-
SJ/T 10519.11-1994
塑料注射模零件 顶杆
-
GB/T 2881-2008
工业硅
-
SJ/T 11532.3-2015
危险化学品气瓶标识用电子标签通用技术要求 第3部分:读写器特殊要求
-
SJ/T 10466.7-1993
设计评审指南
-
SJ/T 11647-2016
信息技术 盘阵列接口要求
-
GB/T 20229-2022
磷化镓单晶
-
SJ/T 11459.2.2.2-2013
液晶显示器件 第2-2-2部分:显示器用彩色矩阵液晶显示模块详细规范
-
SJ/T 11261-2001
真空开关管型号命名方法
-
YS/T 28-1992
硅片包装
-
SJ/Z 11355-2006
集成电路IP/SoC功能验证规范
-
SJ/T 11459.7.1-2014
液晶显示器件 第7-1部分:无源液晶显示器外形及窗口优选尺寸系列
-
SJ/T 10655-1995
短波单边带通信设备检验规则
-
SJ/T 11200-1999
环境试验 第二部分:试验方法 试验Td:表面组装元器件的可焊性、金属化层耐熔蚀性和焊接热
-
SJ/T 11616-2016
信息技术 移动信息终端基于关键词引导的规范
-
SJ/T 31024-2016
数控车床完好要求和检查评定方法
-
SJ/T 11460.3.1-2014
液晶显示用背光组件 第3-1部分:便携式显示用LED背光组件空白详细规范
-
GB/T 14847-2010
重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法