收藏到云盘
纠错反馈
SJ/T 11490-2015 低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法
基本信息
-
标准号：
SJ/T 11490-2015
-
名称：
低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法
-
英文名称：
暂无
-
状态：
现行
-
类型：
行业标准
-
性质：
推荐性
-
发布日期：
2015-04-30
-
实施日期：
2015-10-01
-
废止日期：
暂无
-
相关公告：
实施公告【2015年第7号(总第187号)】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类：
【
电气工程（29）
半导体材料（29.045）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
半金属与半导体材料（H80/84）
化合物半导体材料（H83）
】
-
行标分类：
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
SJ/T 10453-1993
信息技术 文本通信 标准页面描述语言(SPDL)
-
SJ/T 10533-1994
电子设备制造防静电技术要求
-
SJ/T 10483-1994
锌空气（氧）碱性电池型号命名方法
-
SJ/T 10133-1991
有质量评定的有或无机电继电器试验--览表2JQX--10F型通用电磁继电器
-
SJ/T 10218-1991
有机介质固定电容器制造质量控制要点
-
GB/T 25074-2017e
太阳能级多晶硅
-
SJ/T 10617-1995
RT13型碳膜固定电阻器
-
SJ/T 11678.2-2017
信息技术 学习、教育和培训 协作技术 协作空间 第2部分：协作环境数据模型
-
SJ/T 2086-2016
聚氯乙烯绝缘安装电线电缆
-
SJ/T 10300-1991
电容测量仪测试方法
-
SJ/T 2658.2-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第2部分：正向电压
-
SJ/T 10301-1992
扬声器用T型导磁体尺寸系列
-
YS/T 43-1992
高纯砷
-
DB65/T 3486-2013
新疆维吾尔自治区太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法
-
SJ/T 11196-1998
超级 VCD 系统技术规范
-
SJ/T 10005-1991
BCC型音频输出变压器
-
SJ/T 2089-2001
电子测量仪器型号命名方法
-
SJ/Z 11353-2006
集成电路IP核转让规范
-
SJ/T 11216-1999
红外/热风再流焊接技术要求
-
SJ/T 11644-2016
激光微投影机通用规范
打开设置，点击
执行注册
