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SJ/T 11487-2015 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法
基本信息
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标准号:
SJ/T 11487-2015
-
名称:
半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法
-
英文名称:
暂无
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状态:
现行
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类型:
行业标准
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性质:
推荐性
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发布日期:
2015-04-30
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实施日期:
2015-10-01
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废止日期:
暂无
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相关公告:
实施公告【2015年第7号(总第187号)】
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