收藏到云盘
纠错反馈
SJ/T 11489-2015 低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法
基本信息
- 标准号:SJ/T 11489-2015
- 名称:低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法
- 英文名称:暂无
- 状态:现行
- 类型:行业标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:2015-04-30
- 实施日期:2015-10-01
- 废止日期:暂无
- 相关公告:
分类信息
- ICS分类:【 】
- CCS分类:【 】
- 行标分类:【 】
描述信息
- 前言:暂无
- 适用范围:本标准规定了低位错密度磷化铟(InP)抛光片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法。
- 引用标准:暂无
相关标准
暂无
相关部门
- 起草单位:工业和信息化部电子工业标准化研究院 信息产业专用材料质量监督检验中心 苏州晶瑞化学有限公司等
相关人员
暂无
关联标准
- GB/T 25074-2010 太阳能级多晶硅
- SJ/T 10326-1992 电视广播接收机群时延特性
- SJ/T 10274-1991 掩模对准曝光机测试方法
- SJ/T 11428-2010 GPS接收机OEM板性能要求及测试方法
- YS/T 982-2014 氢化炉碳/碳复合材料U形发热体
- SJ/T 11292-2016 计算机用液晶显示器通用规范
- SJ/T 11641-2016 印制板钻孔用盖板
- SJ/T 11255-2001 叠层型片式电感器详细规范
- YS/T 223-1996 硒
- GB/T 26071-2010 太阳能电池用硅单晶切割片
- SJ/T 10507-1994 薄膜介质预调可变电容器总规范
- SJ/T 10519.02-1994 塑料注射模零件 垫块
- SJ/T 10696-1996 QL50型机动车用九管桥式整流组件详细规范
- SJ/T 10415-1993 晶体管热敏参数快速筛选试验方法
- SJ/T 10036-1991 FU--605型电子管
- SJ/T 10388-1993 电子工业专用设备可靠性术语
- SJ/T 10179-1991 金属隔振器总规范
- SJ/T 11400-2009 半导体光电子器件 小功率半导体发光二极管空白详细规范
- SJ/T 10361-1993 电力调度通信总机技术要求
- SJ/T 11140-1997 铝电解电容器用电极箔