• 当前位置：
    首页 规范标准 YS/T 15-2015 硅外延层和扩散层厚度测定 磨角染色法
收藏到云盘
纠错反馈

YS/T 15-2015 硅外延层和扩散层厚度测定 磨角染色法

Test method for thickness of epitaxial layers and diffused layers by angle lap stain
基本信息
  • 标准号：
    YS/T 15-2015
  • 名称：
    硅外延层和扩散层厚度测定 磨角染色法
  • 英文名称：
    Test method for thickness of epitaxial layers and diffused layers by angle lap stain
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    行业标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2015-04-30
  • 实施日期：
    2015-10-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【2015年第7号(总第187号)】
    • 阅读或下载 使用APP、PC客户端等功能更强大
    • 网页在线阅读 体验阅读、搜索等基本功能
    • 用户分享资源 来自网友们上传分享的文件
    • 纸书购买 平台官方及网友推荐
分类信息
  • ICS分类：
    【 冶金（77） 金属材料试验（77.040） 】
  • CCS分类：
    【 冶金（H） 金属理化性能试验方法（H20/29） 金属物理性能试验方法（H21） 】
  • 行标分类：
    【 有色冶金（YS） 】
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    本标准规定了测定硅外延层和扩散层厚度的磨角染色法。
    本标准适用于外延层和扩散层与衬底导电类型不同或两层电阻率相差至少一个数量级的任意电阻率的硅外延层和扩散层厚度的测量，测量范围为1 μm～100 μm。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 代替标准：
    YS/T 15-1991
  • 引用标准：
    GB/T 1550 GB/T 6617-2009 GB/T 14146 GB/T 14264 GB/T 14847
相关部门
  • 起草单位：
    南京国盛电子有限公司 有研新材料股份有限公司 上海晶盟硅材料有限公司
相关人员
暂无
关联标准
  • YS/T 64-1993 铝电解用炭素制品电阻率测定方法
  • JB/T 10061-1999 A型脉冲反射式超声探伤仪 通用技术条件
  • YS/T 903.2-2013 铟废料化学分析方法 第2部分:锡量的测定 碘量法
  • YS/T 1230.3-2018 阳极铜化学分析方法 第3部分：锡、铁、砷、锑、铋、铅、锌、镍量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • YS/T 568.11-2008 氧化锆、氧化铪化学分析方法 镍量的测定 α-联呋喃甲酰二肟分光光度法
  • YS/T 891-2013 高纯钛化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法
  • YS/T 35.2-1992 高纯锑化学分析方法 化学光谱法测定锌、银、铜、镉、镍、铅、镁、金、铁和锰量
  • YS/T 74.5-1994 镉化学分析方法二乙基二硫代氨基甲酸铅分光光度法测定铜量
  • YS/T 254.6-2011 铍精矿、绿柱石化学分析方法 第6部分：氧化钙量的测定 火焰原子吸收光谱法
  • YS/T 301-2007 钴精矿
  • YS/T 445.12-2019 银精矿化学分析方法 第12部分：铬含量的测定 二苯基碳酰二肼光度法
  • YS/T 536.6-2009 铋化学分析方法 铅量的测定 电热原子吸收光谱法
  • GB/T 31474-2015 电子装联高质量内部互连用助焊剂
  • YS/T 1326-2019 粗银
  • YS/T 1146-2016 钼及钼合金舟
  • YS/T 1225-2018 高纯二氧化锡
  • YS/T 781.2-2012 铝及铝合金管、棒、型材行业清洁生产水平评价技术要求 第2部分：阳极氧化与电泳涂漆产品
  • YS/T 276.5-2011 铟化学分析方法 第5部分：铁量的测定 方法1：电热原子吸收光谱法 方法2：火焰原子吸收光谱法
  • YS/T 617.2-2007 铝、镁及其合金粉理化性能测定方法 第2部分: 铝镁合金粉中铝含量的测定 氟化物置换络合滴定法
  • YS/T 716.6-2009 黑铜化学分析方法 第6部分：砷、铋、镍、铅、锑、锡、锌量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
用户分享资源

YS/T 15-2015 硅外延层和扩散层厚度测定 磨角染色法

Test method for thickness of epitaxial l... 上传文件 注:本列表内文件主要来源于网友们的分享上传。如您发现有不正确不合适的内容，请及时联系客服
纠错反馈
YS/T 15-2015 硅外延层和扩散层厚度测定 磨角染色法
提交反馈
分类列表
确定
上传文件
完全匿名 前台匿名 显示用户名 点击选择文件
{{uploadFile.name}} {{uploadFile.sizeStr}}
目前支持上传小于100MB的PDF、OCF、OCS格式文件
注:您上传文件即代表同意平台可以公开给所有用户下载。平台会根据您的选择及实际情况，为您发放相应的直接或分成奖励。平台也可以根据实际情况需要，对您上传到服务器的文件进行调整隐藏删除等，而无需通知到您。
联系客服

纸书购买链接招商中，联系客服入驻

客服QQ： 2449276725 1455033258

1098903864 1969329120

客服电话：0379-80883238

电子邮箱：ocsyun@126.com