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YS/T 14-2015 异质外延层和硅多晶层厚度的测量方法
Test method for thickness of heteroepitaxy layers and polycrystalline layers
基本信息
分类信息
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ICS分类:
【
冶金(77)
金属材料试验(77.040)
】
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CCS分类:
【
冶金(H)
金属理化性能试验方法(H20/29)
金属物理性能试验方法(H21)
】
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行标分类:
描述信息
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